高光谱显微成像系统

一种超高速且一体化的可定制高光谱显微镜平台，具有高空间分辨率和光谱分辨率。完全集成的系统可快速映射VIS-NIR-SWIR光谱范围内的漫反射，透射率，光致发光，电致发光和荧光。基于高通量全局成像滤波器，IMA™比基于扫描类型光谱仪的高光谱系统更快，更高效。

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现货价格1.8w赛默飞THERMO Multiskan FC全自动酶标仪带孵育器Multiskan FC性能参数

【产品名称】：现货价格1.8w赛默飞THERMO Multiskan FC全自动酶标仪带孵育器Multiskan FC性能参数 【产品型号】：Thermo热电 Multiskan FC 酶标仪(带孵育器)_热电酶标仪参数报价参数 【产品品牌】：Thermo热电 Multiskan

¥18000

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lexsygsmart光释光测年仪

在实验室中，可通过加热或者光束照射激发矿物颗粒使累积的辐射能以光的形式被激发出来，这 就是释光信号。通过加热激发的释光信号叫热释光，通过光束激发的释光信号叫光释光。 lexsyg smart 用于常规的标准TL/OSL测定，是业界zui灵敏的一款新型释光测定仪。 lexsyg re

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Smart SE 智能型多功能椭偏仪

多功能性设计，配置灵活，具备多角度测量能力，可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单，快速，精确表征和分析的工具。 技术参数： · 光谱范围：450-1000nm · 多种微光斑自动选择 · 专利光斑可视技术，可观测任何样品表面 · CCD探测器 · 自动样品

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UVISEL 2 研究级全自动椭偏仪

UVISEL2是一款完全革新的全自动光谱型椭偏仪。继承并发展了经典机型UVISEL的高准确性、高灵敏度和高稳定性等技术特点的同时，配备革新的可视系统，多达8个尺寸微光斑选项，最小达35×85μm2，适用于所有薄膜材料研究领域。是目前市场上独一无二的机型。 技术参数： ·光谱范围：1

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大乳粒PFAT5检测仪

PST-890大乳粒PFAT5检测仪 公司简介： 普洛帝/PULUODY是世界上液体颗粒监测技术型设备的提供商，1970年7月由PULUODY本人创立于英国诺福克，致力于向人们提供“精准、可信赖”的颗粒监测技术。普洛帝颗粒监测技术延续并持续创新了40余年，现已成为液体颗粒监测技术的

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二手 PE AAS800火焰石墨炉一体机价格/功能

AAS800火焰石墨炉一体机仪器特点： 1.同事检测样品光束和参比光束的双光速仪器； 2.固体检测器； 3.全自动转换火焰和石墨炉系统； 4.纵向交变塞曼效应背景校正； 5.无需转动的八灯灯架； PE-AAS800原子吸收光谱仪集多项高新技术于一身的新型仪器，不仅满足您的日常分析

￥40000

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MicOS显微光谱测量系统

HORIBA Scientific最新研发的MicOS显微光谱系统，可提供完整的显微光谱测量解决方案，它主要包括一个直接与光谱仪耦合的显微探测头和一个高性能三光栅成像光谱仪，该光谱仪最多可同时接三个探测器。 1、是显微水平光致发光、电致发光和光调制反射光谱研究的理想选择。 2、覆盖

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In-situ series 在线椭偏仪

在镀膜或刻蚀的过程中，实时监测样品膜的膜厚以及光学常数（n,k）变化。 技术参数： ·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化 主要特点： 将激发和探测头引入生产设备，可实现： · 动态模式:实时监测膜厚变化 · 光谱模式：监测薄膜的界面和组分

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灵活型CL光谱仪 Flex-CLUE

、方解石、白云石 3、公安 4、生命科学 CL光谱及成像： ■CL光谱：使用CL测量光谱时，可在电镜下观察并选择待测样品区域。 ■快速CL成像：将扫描电子束与您的光谱仪同步，提供快速成像方案。使用HCLUE系统测量的GaN样品，测量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 矿物样品中的

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一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE

全自动化&高集成度&可视化光斑 一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。 1 主要特点 1. 液晶调制技术，无机械转动部件，

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HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪

X射线显微分析仪（μXRF） XGT-9000 应对外来物质分析和元素分布检测的最新解决方案。 运用强大的“快速分析模式”和“细节分析模式”，对外来物质分析，XGT-9000作为单一一台仪器即能迅速完成筛查和形状确认。 1外来物质分析的最新解决方案 快速扫描结合图像处理的颗粒增强

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OSTEC 激光诱导击穿光谱仪 (LIBS)

基于实验室分析的LIBS仪器可提供与ICP-MS类似的性能，其分别和优势是无需制备样品!

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OSTEC 傅里叶变换红外（ FT-IR）光谱仪

接口， 自检装置 ●傅立叶光谱仪重量（无附加模块）：≤16kg ●尺寸：550x300x200mm ●外部光学输出端口，用于连接安装在外部隔间的设备

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GD-Profiler 2 辉光放电光谱仪

GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具，非常适合于导体（和/或）非导体复合镀层的分析。可分析70多种元素，其中包括C、H、O、N和Cl。一次测试可轻松获取镀层元素深度分布、镀层厚度、镀层均一性及表面/界面等信息。 GD-Profiler 2可分析几纳米到200

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UVISEL 2 VUV 真空紫外椭偏仪

专为VUV 测量设计，整个系统处于真空状态，无氧气吸收。具备高度准确性；独一无二的超快测量速度；快速样品室抽真空能力，方便快速更换样品；氮气消耗量少。 产品特点 50KHz 高频PEM 相位调制技术 45 秒内完成充氮气 2 分钟内完成样品室抽真空 8 分钟内完成光谱全谱范围内测量

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高效型CL光谱仪 HCLUE

仪器简介： 电子束入射到样品上，即可用光学方法接收并分析阴极发光（CL），从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法，结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果，是纳米结构和体材料的独特分析工具。 HCLUE是一款基于反射镜耦合优化的CL系统，结合了Jobin Yvon

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Profiler HR 辉光放电光谱仪

GD-Profiler HR拥有独一无二的超高光谱分辨率，为解决复杂基体中的疑难问题提供了适宜、便利的方法。 技术参数： 1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳定性高、溅射束斑极为平坦、等离子体稳定时间极短、表面信息无任何失真。 2、脉冲工作模式既可以分析常规的涂/镀层和薄膜，

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Auto SE 一键式全自动快速椭偏仪

化设计，一键式操作，直接报告输出 ·液晶调制技术，测量光路中无运动部件 ·CCD探测系统，快速全谱输出 ·多个微光斑尺寸选择，专利可视技术 ·封闭式样品仓

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PP-TOFMS 等离子体分析飞行时间质谱仪

等离子体分析飞行时间质谱仪结合了辉光放电等离子体的溅射速度和时间飞行质谱的快速以及高灵敏度，实现了高分辨率和高灵敏度条件下固体材料的快速化学深度剖析。 重点应用领域： ● 掺杂分析（半导体、光电子、太阳能光伏、传感器、固态光源） ● 表面和整体污染鉴定（PVD 镀层、摩擦层、电气镀

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