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显微型纳米级大范围双折射测量仪相位差差测量仪系统

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  • Photonic Lattice
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  • 2025年07月16日
    • 详细信息
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    • 技术资料
    显微镜型双折射测试系统WPA-micro
    产品简介
    WPA-micro系列是Photonic lattice公司以其领先世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。显微镜版的入门级产品,
    高相位差样品的显微镜视野测量,针对钢化玻璃和光学薄膜剖面评估,亦可用于测量球晶、金属晶体等。
    特点
    u 操作简单,测量速度可以快到3秒,
    u 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。
    u 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。
    u 具有多种分析功能和测量结果的比较。
    u 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

    主要应用
    · 钢化玻璃和光学薄膜。
    · 球晶、金属晶体等。
    · 高分子结晶。

    参数指标
    型号 WPA-micro
    测量范围 0~ 3OO0nm
    重复性 <1.0nm
    像素数 384×288(≒100万)pixels
    测量波长 523nm,543nm,575nm
    尺寸 250×487×690mm
    观测到的最大面积 镜头:5倍:约1.1×0.8 mm 10倍:0.5×0.4mm 20倍:约270×200μm 50倍:約110×80μm 100倍:約 55× 40μm
    重量 约11kg
    数据接口 GigE(摄像机信号) RS-232(控制马达)
    电压电流 AC100-240V(50/60Hz)
    软件 WPA-View(for WPA-micro)

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    图标文献和实验
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    • 仪器的精度选择

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