方源仪器专业供应分光辐射亮度计CS-2000 / CS-2000A

方源仪器专业供应分光辐射亮度计CS-2000 / CS-2000A

方源仪器专业供应分光辐射亮度计CS-2000 / CS-2000A 产品介绍 测量极端低亮度的能力达到全球顶尖水平 ※ 作为一款色彩分光辐射亮度计(于2008年10月) 100,000 : 1的对比度测量现在已成为可能! ※
品牌方源货号1
氮吸附比表面测量仪V-Sorb 4800P

氮吸附比表面测量仪V-Sorb 4800P

V-Sorb 4800P全自动4站比表面及孔径测试仪技术指标及特点 一、技术指标 测试方法及功能: 静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langm
品牌金埃谱货号V-Sorb 4800P

¥265000

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二手测厚仪,二手膜厚仪,金厚测试仪,X-RAY测厚仪,X-RAY膜厚仪

二手测厚仪,二手膜厚仪,金厚测试仪,X-RAY测厚仪,X-RAY膜厚仪

XRF2000电镀测厚仪,电镀层测厚仪,电镀膜厚仪,电镀表层测厚仪,荧光测厚仪,X光线测厚仪,二手测厚仪,二手膜厚仪,金厚测试仪,X-RAY测厚仪,X-RAY膜厚仪 Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分
货号13798524697供应商13798524697

¥150000

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热收缩仪

热收缩仪

产品特色 温度可至230℃±0.3% 可对横向和纵向分别测量 测量范围:热膨胀27%;热收缩5% 试样尺寸:60mm*200mm(MD or CD) 精确度:0.013% 产品简介 纸张在印刷过程中会受到加热的作用,因此纸张的热稳定性能在印刷工业中是一项很重要的指标,本仪器测试纸
货号德国 EMTEC HSA数量大量
JW-K半自动比表面及孔隙率测试仪

JW-K半自动比表面及孔隙率测试仪

JW-K半自动比表面及孔隙率测试仪 技术参数与规格 工作气体: 高纯氮气(99.99%) 高纯氦气(99.99%) 氮气分压: 0.05-0.98 气体流量: ≤100 ml/min 工作压力: 常压 测定范围: 比表面≥0.01M2/g 至无规定上限 孔径(最佳范围):2-10
货号JW-K产地北京
96通道抗生素检测仪可定量检测莱克多巴胺、黄曲酶毒素B1、克伦特罗

96通道抗生素检测仪可定量检测莱克多巴胺、黄曲酶毒素B1、克伦特罗

一﹑机台名称:96通道抗生素检测仪 二、型号:HWVD-96KSS 三、应用领域 HWVD-96KSS可定量检测莱克多巴胺、黄曲酶毒素B1、克伦特罗、黄曲霉毒素总量、阿灭丁、双甲脒、阿莫西林、氨苄西林、氨丙琳、安普霉紊、阿散酸、阿维菌素、甲基吡啶磷、氮哌酮、杆菌肽、苄青霉家、头孢
货号HWVD-96KSS供应商后王
粉煤灰比表面测试仪/比表面分析

粉煤灰比表面测试仪/比表面分析

/T 19587-2004)-气体吸附BET原理测定固态物质比表面积的方法 一、粉煤灰比表面测试仪定量方法:(比表面测定仪 湖北/湖南/河南/江西) GC5890S色谱比表面分析仪以BET原理为依据,以色谱流出曲线服从高斯方程为基础,按“高斯曲线一点法”快速准确定量。 二、粉煤灰比
品牌南京科捷货号GC5890
三维非接触式表面轮廓仪

三维非接触式表面轮廓仪

美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 美国NANOVEA公司是一家全球公认的在微纳米尺度上的光学表面轮廓测量技术的领导者,生产的光学轮廓仪是目前国际上用在科学研究和工业领域最先进表面轮廓测量设备,该公司在光学设计、精密机械和
品牌NANOVEA货号PS50
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