粒子形状分析仪

Morphologi 4 是一个全自动静态图像分析系统，可测量干粉颗粒，混悬液和滤膜上颗粒的粒径和形貌。它旨在满足多学科研发实验室的多样化需求，是昂贵且耗时的手动显微镜的理想替代工具。由于完全自动化运行且数据分析简单，与手动方法相比，节约大量的时间。仅需简单标准化操作程序 (SO

Microtrac MRB：作为一个颗粒表征解决方案的供应商。我们为客户提供先进的技术，以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。 激光粒度粒形分析仪 S3500SI：一台仪器，具备两种测量技术 - 静态激光衍射法 - 动态图像分析法 操作软件：提供强大的数据处理能力，包括

MTM-10 ＆MTM-20 高分辨率薄膜厚度监视器 仅适用于Cressington Sputter和Carbon Coaters 高分辨率厚度监视器和厚度控制器基于以下原理：石英晶体的振荡频率由其上表面上的沉积膜的质量改变。电子测量该效果允许确定沉积膜的厚度。一旦将蒸发的材料的