PSS Nicomp N3000纳米粒度仪Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 基本信息 仪器型号:PSS Nicomp N3000 Plus 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) 检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp 品牌:Particle Sizing Systems 货号:pss-nicomp 3000 dls
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¥300000-600000 |
马尔文帕纳科激光粒度仪Mastersizer 3000Mastersizer 3000 激光衍射粒度分析仪可为干湿法分散提供快速、便捷的粒径分布测试。 该分析仪可在纳米至毫米粒度范围内进行测量,体积小巧、性能稳定可靠,可为所有用户提供无需操作者干预的测量。马尔文帕纳科在粒度分析领域,为世界各地超过10000家公司的Mastersize 研选 文献支持 品牌:马尔文帕纳科 货号:Mastersizer 3000
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超声综合性能检测模体超声综合性能检测模体由彷组织材料构成,适用于对医用超声诊断设备进行全面的性能评估。测量项目包括:盲区、探测深度、横向分辨率、轴向分辨率、灰阶、囊肿模拟等。 优势 单个模体中综合了普通扫描和小目标测量物结构。 扫描的深度范围为1.0到30.0厘米。 由耐用的橡胶底座组织仿真材料制成 品牌:DELTA 货号:GS-delta421
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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。 SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液 品牌:HORIBA 货号:SZ-100 动态光散射纳米颗粒分析仪
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纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView,外泌体NTA检测,便于携带; 防震动; 光源从紫外线到红光; 理论 平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率,可以得到zeta电位。 纳米粒子跟踪分析(NTA)和动态光散射(DLS) 所有的光散射仪器,包括粒子跟踪技术,都存在一个问题:当颗粒大小低于100nm时,灵 品牌:Particle Metrix 货号:ZetaView
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TRACKER-S界面流变仪TRACKER-S全自动界面流变仪(表面张力仪)采用模块化设计,有多种测试功能,可帮助您轻松,全面而精确地表征两种不混溶流体之间的界面特性,通过扩展,可以实现高温。 可实现的测试功能: • 表面张力/界面张力 • 接触角,表面能 • 动态接触角:前进角和后退角 • 界面粘弹性 弹性 品牌:泰克利斯 货号:450123
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FOAMSCAN泡沫分析仪FOAMSCAN™ 泡沫分析仪用于在评价泡沫特性,如起泡性和稳定性,泡沫尺寸和分布等。 原理:软件控制气体流量,将气体注入到液体中,产生泡沫,通过CCD照相机实时跟踪分析泡沫图像得到真实的泡沫体积,液体体积等,结果可以保存为照片或录像。 仪器特点 • 采用光学泡沫检测系统,结果准确 品牌:泰克利斯/TECLIS 货号:teclis210617
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LSA100POM粉末润湿性测量仪LSA100POM粉末润湿性测量仪由德国LAUDA Scientific公司研发生产,是一款专门用于测量粉末及多孔材料润湿性的光学仪器,通过视频实时跟踪吸收液的液面变化,精确测量吸收液的体积,根据Washburn法计算粉末及多孔材料的动态接触角。LSA100POM不仅表征了粉末及 品牌:德国LAUDA Scientific 货号:4501296
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德国LAUDA Scientific LSA200视频光学接触角测量仪德国LAUDA Scientific LSA200视频光学接触角测量仪是一款测量功能齐备的全能型表面分析仪器。它具有功能多样化的特点,并且能够实现仪器的智能化全自动控制。它不仅可以准确可靠的完成接触角测量,滚动角测量、表面自由能测量和界面张力测量等常用的测量任务,而且在高速动态、 品牌:LAUDA Scientific 货号:1
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表面张力仪Wilhelmy plate and Du Noüy ring tensiometer Overview - Principle TensioCAD is a tensiometer based on the principle of measuring a force again 品牌:CAD instruments 货号:CAD attention
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$9000 |
NKD光学薄膜分析系统英国Aquila公司是世界领先的薄膜分析解决方案供应商。 其NKD系列薄膜分析系统是世界上第一台专为表征和分析薄膜涂层和基片而设计的光谱仪。适合测量多层薄膜的光学性能n(折射指数)和k(消光系数),以及d(厚度)。 适合多种薄膜材料:介电、聚合物、半导体和金属。 主要应用在光学涂层 品牌:Aquila 货号:NKD7000/8000
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原子层沉积设备PICOSUN™ALD-P1000原子层沉积设备PICOSUN™ALD-P1000介绍: 原子层沉积设备PICOSUN™ALD-P1000专门对于3D结构物体进行批量涂层加工。例如:机械零件、玻璃或金属片、硬币、珠宝以及医疗植入物等。 PICOSUN™ P-1000系统专门对于3D结构物体进行批量涂层加工,例如:机 品牌:Picosun 货号:PICOSUN™P300系列
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¥90-200 |
原子层沉积技术PICOSUN™ALD-R系列名称:原子层沉积技术PICOSUN™ALD-R系列: 型号:PICOSUN™R-200标准型、PICOSUN™R-200高级型 产地:芬兰 品牌:PICOSUN 原子层沉积技术PICOSUN™ALD-R系列介绍: PICOSUN™R系列ALD系统是一款研发型产品,应用领域广泛,例如 品牌:Picosun 货号:0010
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¥1000000-3000000 |
纳米力学测试系统 NanoTest Vantage名称:纳米力学性能测试系统 品牌:Micro Materials 产地:英国 型号:NanoTest Vantage NanoTest Vantage系统在一个灵活和用户友好的仪器中提供了完整的纳米机械和纳米摩擦学测试。只需一个测试平台,就可以研究各种机械性能,从而集成出材料性能的 品牌:Micro Materials 货号:NanoTest Vantage
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¥100-200 |
武汉紫外光耐候试验箱紫外光耐气候老化试验机 产品概述: 1. 紫外光耐气候老化试验机采用荧光紫外灯为光源,通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝,对材料进行加速耐候性试验,以获得材料耐候性的结果。用于丰非金属材料、有机材料(如:涂料、油漆、橡胶、塑胶及其制品),经在阳光、湿度、温度、凝露等气候条件的变化下 品牌:鸿达 货号:HD-UV-2010100906
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¥21500 |
氙灯耐候实验箱专业定做厂家台式风冷氙灯老化试验箱 一、台式风冷氙灯老化试验箱型号:SN-66型 1. 内形尺寸:D×W×H 380×500×350:mm 2. 外形尺寸:D×W×H 730×830×650:mm 二、产品用途: 台式风冷氙灯老化试验箱采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光 品牌:鸿达 货号:HD-SN-2010009100
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¥24500 |
美国Surgical Research 品牌皮肤、伤口生物械力特性实时测试分析系统皮肤、伤口生物械力特性实时测试分析系统 品牌:surgical BCT2000皮肤及组织生物力学特性(柔软度)测量分析仪系统绍 BCT-2000皮肤、伤口生物械力学特性实时测试分析系统是用来测量一定区域的皮肤或者凝胶组织在一个吸引强制力的作用下的变形以及恢复的能力,其测量样品的种 品牌:美国Surgical Research 货号:BCT2000
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¥1 |
动态水蒸气吸附仪Vsoro水蒸气吸附仪是一种能够精确记录样品在可控环境下重量变化的仪器,既可以记录样品重量随时间的变化,也可以绘制出样品的水分吸附等温线,即温度恒定时,样品在不同相对湿度情况下的平衡含水率,可以用来判断基本物料的性质,为物料的处理提供有关水分方面的参考信息。 德国Proumid仪器公司生产的 品牌:普优米德 货号:Vsorp
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¥500000-800000 |
动态水蒸气吸附仪SPS水蒸气吸附仪是一种能够精确记录样品在可控环境下重量变化的仪器,既可以记录样品重量随时间的变化,也可以绘制出样品的水分吸附等温线,即温度恒定时,样品在不同相对湿度情况下的平衡含水率,可以用来判断基本物料的性质,为物料的处理提供有关水分方面的参考信息。 德国Proumid仪器公司生产的 品牌:ProUmid 货号:SPS
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¥1000000-1500000 |
UMT高真空摩擦磨损试验机以及运动状态。另外在系统的选配件中还提供了试验过程中对界面微变化情况进行实时监控数字摄像系统,三维表面形貌仪,原子力显微镜。并且在此系统上还可以增加高低温环境湿度控制系统和真空系统。 UMT-Vacuum高负载真空摩擦仪,UMT高真空摩擦磨损试验机 精密平台,不同模块简易互换 UM 品牌:美国CETR 货号:UMT
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¥100000 |
比表面积测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定, t-plot图法外比表面积测定 测定范围:0.01(m2/g)--至无上限(比表面积) 测量精度:重复性误差小于1.5% 真空系 品牌:金埃谱 货号:V-Sorb 4800S
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¥150000 |
BET比表面仪金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001质量认证的生产企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧! 全自动BET比 品牌:金埃谱 货号:F-Sorb 2400CE
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¥90000 |
比表面测定仪F-Sorb X400系列比表面仪,比表面测量仪,比表面测定仪,比表面测试仪,比表面分析仪,比表面检测仪是目前国内同类产品中唯一完全自动化,智能化的比表面测量仪器,由金埃谱科技与兵器系统合作研发,秉承兵器行业高标准、严要求的技术宗旨,依据国际经典比表面测量理论和原理,采用国内外通用 品牌:金埃谱 货号:F-Sorb X400
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薄膜应力测试仪薄膜应力测试仪 薄膜应力测试仪,又名薄膜残余应力测试仪或薄膜应力仪,是专门用于测试和研究薄膜材料和薄膜制备工艺的必不可少的工具。 薄膜中应力的大小和分布对薄膜的结构和性质有重要的影响, 可导致薄膜的光、电、磁、机械性能改变. 例如, 薄膜中的应力是导致膜开裂或与基体剥离的主要因素, 品牌:SUP 货号:7
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BET比表面积检测仪F-Sorb1400一、技术指标 主机功能: 氮吸附连续流动法(气相色谱法)测试,直接对比法比表面积测试,BET法比表面积(单点)测试,平均粒径估算 测试功能: F-Sorb智能化测试模式,无人干预全自动测试,消除人为操作误差,提高测试精度 测量范围: 0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积) 流量 品牌:金埃谱 货号:F-Sorb1400
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¥68000 |
氮吸附比表面测量仪V-Sorb 4800PV-Sorb 4800P全自动4站比表面及孔径测试仪技术指标及特点 一、技术指标 测试方法及功能: 静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmu 品牌:金埃谱 货号:V-Sorb 4800P
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¥265000 |
BET比表面积检测仪V-Sorb 4800V-Sorb 4800全自动4站比表面及孔隙分析仪技术指标及特点 一、技术指标 测试方法及功能: 氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析, BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表 品牌:金埃谱 货号:V-Sorb 4800
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¥176000 |
比表面积及孔隙率检测仪V-Sorb 4800SV-Sorb 4800S全自动4站比表面积测试仪技术指标及特点 一、技术指标 测试方法及功能: 氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定,t-plot图法外比表面积测定;采用强大的在线数据 品牌:金埃谱 货号:V-Sorb 4800S
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¥146000 |
JW-BK型静态容量法比表面纳米测试仪JW-BK型静态容量法比表面纳米测试仪 技术参数: 原 理: 氮吸附、多层吸附理论、毛细凝聚理论 方 法: 静态容量法 功 能: BET比表面(包括相关常数及系数)测定 Langmuir比表面测定 等温吸、脱附曲线测定 从吸附曲线测定BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径 从脱附曲线 货号:JW-BK 产地:北京
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JW-K半自动比表面及孔隙率测试仪JW-K半自动比表面及孔隙率测试仪 技术参数与规格 工作气体: 高纯氮气(99.99%) 高纯氦气(99.99%) 氮气分压: 0.05-0.98 气体流量: ≤100 ml/min 工作压力: 常压 测定范围: 比表面≥0.01M2/g 至无规定上限 孔径(最佳范围):2-10 货号:JW-K 产地:北京
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JW-004纳米材料比表面积测定仪JW-004纳米材料比表面积测定仪 技术参数 工作气体: 高纯氮气(吸附质),高纯氦气(载气), 气体流量: ≤100ml/min JW-004型动态BET比表面积测试仪 流量控制: 高精密稳压稳流系统 流量测定: 高精密气体流量传感器 流量精度: 0.1 ml/min 流量显示 货号:JW-004 产地:北京
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JW-004型动态粉体比表面积测试仪JW-004型动态粉体比表面积测试仪 技术参数 工作气体: 高纯氮气(吸附质),高纯氦气(载气), 气体流量: ≤100ml/min JW-004型动态BET比表面积测试仪 流量控制: 高精密稳压稳流系统 流量测定: 高精密气体流量传感器 流量精度: 0.1 ml/min 流量显 货号:JW-004 产地:北京
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光学轮廓仪美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 美国NANOVEA公司是一家全球公认的在微纳米尺度上的光学表面轮廓测量技术的领导者,生产的光学轮廓仪是目前国际上用在科学研究和工业领域最先进表面轮廓测量设备,该公司在光学设计、精密机械和 品牌:NANOVEA 货号:CR750
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三维非接触式表面轮廓仪美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 美国NANOVEA公司是一家全球公认的在微纳米尺度上的光学表面轮廓测量技术的领导者,生产的光学轮廓仪是目前国际上用在科学研究和工业领域最先进表面轮廓测量设备,该公司在光学设计、精密机械和 品牌:NANOVEA 货号:PS50
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三维非接触式光学形貌仪美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 美国NANOVEA公司是一家全球公认的在微纳米尺度上的光学表面轮廓测量技术的领导者,生产的光学轮廓仪是目前国际上用在科学研究和工业领域最先进表面轮廓测量设备,该公司在光学设计、精密机械和 品牌:NANOVEA 货号:ST400
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全自动快速测试电池材料比表面积分析仪管 专利号:ZL200920110452.X) 全自动快速测试电池材料比表面积分析仪性能参数: 测试方法: 多功能性,可进行固体标样参比法比表面测试、粒度估算; 测试精度:测试精度高、重现性好。测试相对误差小于±1.5%; 测试范围: 测试范围广,可测定比表面积在0.01m2/g以 货号:3H-2000A 供应商:贝士德
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¥68000 |
全自动快速比表面及孔隙度分析仪(活性碳)3H-2000PS1型全自动快速比表面及孔隙度分析仪(活性碳)3H-2000PS1 全自动快速比表面及孔隙度分析仪(活性碳)简介: 测试方法: 静态容量法 特征简列: ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告; ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压 货号:3H-2000PS2 数量:大量
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¥98000 |
全自动快速比表面及孔隙度分析仪(二氧化硅)3H-2000PS1型全自动快速比表面及孔隙度分析仪(二氧化硅)3H-2000PS1 全自动快速比表面及孔隙度分析仪(二氧化硅)简介: 测试方法: 静态容量法 特征简列: ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告; ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸 货号:3H-2000PS1 数量:大量
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¥98000 |
高校实验室比表面及孔结构测试仪(磷酸铁锂)3H-2000PS1型高校实验室比表面及孔结构测试仪(磷酸铁锂)3H-2000PS1 高校实验室比表面及孔结构测试仪(磷酸铁锂)简介: 测试方法: 静态容量法 特征简列: ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告; ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸 货号:3H-2000PS2 数量:大量
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¥98000 |
BET比表面测试仪_精微高博BET比表面测试仪_精微高博 BET比表面测试仪是目前国内同类产品唯一获得高科技新产品证书的仪器,其自动化程度与测试精度均达到了国际先进水平,并已出口亚洲、欧州等多个国家。 BET比表面测试仪特性参数如下: 测试方法与功能:BET比表面积(多点及单点)测试,Langmuir比表面积 货号:JW-004A 数量:大量
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