DNA嵌套缺失试剂盒优惠促销

特别提示：包括DNA嵌套缺失试剂盒在内，本公司的所有产品仅可用于科研实验，严禁用于临床医疗及其他非科研用途！

产品名称：DNA嵌套缺失试剂盒
英文名称：DNA Nested Deletion Kit
产品货号：BTN100213
产品规格：10次

本产品是在Henikoff方法的基础上改良而得。最常见的DNA嵌套缺失方法是利用ExoⅢ等外切酶从线状DNA的一端连续切除核酸，最后环化得到可以转化的质粒。该方法最早由Henikoff在Putney的方法的基础上发明，其流程图如下：


产品特点：
1．不需要使用超螺旋的质粒和任何限制性内切酶，非常皮实。
2．一站式，用户只需要提供质粒，不需要单独准备其他试剂。
3．一管式，不需要任何纯化和回收的处理。
4．提供阳性对照质粒，便于在遇到困难时分析原因。
5．得到的片段可以用于侧序和蛋白结合位点的分析等试验。

试剂盒组成：

成份	规格
DNA聚合Buffer	1mL
DNA酶切Buffer	1mL
酶切终止Buffer	1mL
DNA连接Buffer	1mL
T4 DNA聚合酶	10μL
T4 DNA Ligase	10μL
Exo Ⅲ	10μL
S1核酸酶	10μL
对照模板质粒	10μg
超纯水	1mL
使用手册	1份

储存条件：低温运输，-20℃保存，有效期一年。

使用效果：
将5μg变性的质粒DNA与特异的引物混合，用T4 DNA聚合酶进行全长合成，然后用ExoⅢ酶切，在不同时间点取样，得到单向酶切产物，然后用绿豆核酸酶去掉单链DNA，最后用DNA连接酶将DNA自身环化，最后转化细菌。

图注：用本产品处理含有2.5 KB插入片段的质粒，两边为1Kb DNA marker。中间6条带从左到右分别为ExoⅢ处理0、1、2、3、4和5分钟的DNA(S1核酸酶处理后才上样电泳)

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