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DNA嵌套缺失试剂盒
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一年
DNA Nested Deletion Kit
大量
上海沪震实业有限公司
10次盒
DNA嵌套缺失试剂盒产品及特点:
最常见的DNA嵌套缺失(Nested Deletion)方法是利用ExoⅢ等外切酶从线状DNA的一端连续切除核酸,最后环化得到可以转化的质粒。该方法最早由Henikoff在Putney的方法的基础上发明,其流程图如下:
本产品是在Henikoff方法的基础上改良而得,它具有下列特点:
1. 不需要使用超螺旋的质粒和任何限制性内切酶,非常皮实。
2. 一站式,用户只需要提供质粒,不需要单独准备其他试剂。
3. 一管式,不需要任何纯化和回收的处理。
4. 提供阳性对照质粒,便于在遇到困难时分析原因。
5. 得到的片段可以用于侧序和蛋白结合位点的分析等试验。
DNA嵌套缺失试剂盒使用及效果
将5 μg变性的质粒DNA与特异的引物混合,用T4 DNA聚合酶进行全长合成,然后用ExoⅢ酶切,在不同时间点取样,得到单向酶切产物,然后用绿豆核酸酶去掉单链DNA,最后用DNA连接酶将DNA自身环化,最后转化细菌。
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