美国ISS ChronosDFD数字频域荧光光谱仪

ChronosDFD 用于复式衰减荧光寿命测试小于1s
ChronosDFD通过Vinci软件实现全自动控制，操作环境友好，基于Windows系统的软件控制包。
ChronosDFD 能够测量荧光和转动相关时间复合荧光寿命衰减，测量精度皮秒级，测量时间少于一秒钟。创新性仪器设计具有多种开创性应用：能够短时测量荧光寿命衰减时间，可用来测量快速动力学过程；停流装置中混合物衰减时间和色谱分析；采样品在最短时间曝光下采集荧光寿命，以防光照使得样品光褪色。
工作原理：
ChronosDFD使用独特的数字频域技术设计，光源（激光二极管和LED）通过2ns周期的方形脉冲信号调制，重复率用户可自选，范围0.05Hz-80MHz。频率信号包含重复率基频和其谐波可达三十，比如，当基频为10MHz时，其谐波将产生在20，30，40和最高300MHz。光子检测器根据其独立的相位偏移和相位解调，而独立检测的。相位偏移和解调通过相位直方图完成，通过相位直方图即可得到时间衰减。

ChronosDFD 主要特点:

• 灵活配置，可选光源(laser diodes, LEDs 和Ti:Sapphire laser)
• 体积小巧，光路短，且能到到最大灵敏度和光照效率。
• 毫秒至皮秒荧光寿命测试能力。
• 全自动化仪表组件：透明小容器，偏振器，快门，滤光轮，单色仪和搅拌器。
• PC-控制集成恒温仪，滴定仪，停流设备和压力泵
• 可升级包含稳态测试
• T-型和平行光束设计，已达到快速高精偏振测量
• 由 Vinci-Multidimensional 荧光光谱仪提供技术驱动

• 荧光寿命的计算取决于两个测量参数：相位角和调制
• 测量更快和更少操作
• 允许一步测量各向异性衰减(rotational correlation times)
• 优秀的短时寿命分辨
• 基于荧光寿命传感和实时采集的一种方法选择，可在毫秒时间范围内实现高采集率。

ChronosDFD配置

光源	激光二极管 (nm): 370, 405, 436, 473, 635, 690, 780, 830 LEDs (nm): 280, 300, 335, 345, 460, 500, 520 脉冲激光器: 超连续, Ti:Sapphire（钛宝石激光器）, 脉冲激光二极管
调焦&采集结构	平行光束设计以实现高精偏光测量
偏光器	UV grade Glan-Thompson with L/A=2.0
检测器	PMT hybrid PMT MCP APD
检测模式	光电子计数
波长范围	200 nm- 1700nm (与探测器有关)
最大计数范围	可达1300万counts/s (使用混合式探测器)
荧光寿命测量范围	10-12 s- 10-2 s,  (软件控制可选)
操作系统	Windows 10
电源	通用电源输入: 110-240 V, 50/60 Hz, 400 VAC
尺寸	540 mm (L) x 425 mm (W) x 235 mm (H)
重量	25 kg