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X射线荧光光谱仪Zetium

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  • Zetium
  • 欧洲
  • 2026年05月02日
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      马尔文帕纳科

    X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析,包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计,其高品质的设计和功能,可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。
     

    Zetium 包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。  
     

    Zetium 配备了我们**版本的 SuperQ 软件(包括 Virtual Analyst),可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块,例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 
     

    针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版:水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本:Zetium专业版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案;从连接样品制备装置的简单接口,到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。

    产品细节图片1

    基本创新

    连续开发、不断改进的客户体验

    将 SumXcore 技术(WDXRF与EDXRF 的集成)所带来的符合科学原理的优势驱动型创新融合到 Zetium 平台中,带来更高灵活性、高性能和多功能性。


    基本情报

    我们的 SuperQ 软件带来了新的技术组合和分析功能。 以 Virtual Analyst 为例,它优化了用户在设置和操作系统方面的体验。

    产品细节图片2

    基本支持

    无论在何处,都能获得信息透明且可靠的支持

     

    从服务到专业知识,从培训到实验室分析,可为用户提供全方位支持。 通过遍布全球的资深工程师网络,马尔文帕纳科随时准备好帮助您满足分析需求。 

     

    基本技术

    60 年的经验和传承 
    Zetium 是 WDXRF 光谱仪(包括 Axios、MagiX 和 PW2400)中的新一代产品。 传承下来的成熟技术经过优化和发展,为 Zetium 平台打下了坚实的基础。

    产品细节图片3

    特点

    增强的分析性能:

    • 从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度

    • 一系列 X 射线光管阳极材料(铑、铬、钼和金)可确保发挥特定应用性能

    • 用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器

    • 用于扩大的重元素动态范围(线性高达 3.5 Mcps)的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析

    出色的用户体验:

    • Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件

    • 整套应用程序设置模块和软件解决方案

    • 使用无标 XRF 分析,对未知材料进行分析,或者在没有标准的情况下进行分析

    • 多元素微小区域分析

    • 可编程的面罩,适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm

    显著提升样品处理量:

    • SumXcore 技术 - 利用 ED core(能谱核)将测量时间缩短多达 50%

    • 从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度

    • Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量

    • 连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间

    • 高容量进样器台(*多 209 位)可满足高处理量应用需求

    • 进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入

    可靠性:

    • 除尘设备可尽量减少污染,并能够大大提升仪器的正常运行时间

    • 用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层

    • 样品类型识别(固体和液体)

    • 条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入

     仪器的拥有成本低:

    • 节省空间的紧凑型设计 

    • 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中,或对液体分析实现低氦气消耗

    • 便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间

    • 专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重

    • 可节省成本的成套解决方案

    产品细节图片4

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      向上,可依次检测到不同λ的荧光 X 射线相应的强度,即得到试样中的系列荧光 X 射线强度与 2 θ关系的 X 射线荧光光谱图, 说明试样含有 Cr , Mn , Fe , Co , Ni , Cu , W 等 7 种金属元素。至于它们的含量还应与含有相应元素的标准物的荧光 X 射线强度相比较而获得。   X射线荧光分析法的 特点与适应范围是: ( 1 )适应范围广 除了 H , He , Li , Be 外,可对周期表中从 5 B 到 92 U 作

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