纳米粒度及电位分析仪技术研究和应用

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讲师介绍

官泽贵
中国颗粒学会青年理事。曾在香港浸会大学United International College从事教学与科研工作。后在全球领先的跨国分析仪器集团公司从事大客户销售经理,高级产品及市场专员,高级大客户顾问等工作,具有多年分析仪器行业和实验室相关领域工作经验,致力于为客户提供完整解决方案。加入欧美克仪器公司后继续专注于粉体粒度分析测试领域,十分熟悉了解客户的检测需求以及客户的试验和应用。在激光粒度分析仪,纳米粒度分析仪、颗粒图像分析仪等多种粒度分析仪器及其应用领域积累了丰富的经验。

视频介绍

纳米粒度及电位分析仪是用物理的方法测试纳米颗粒大小以及Zeta电位的一种光学仪器,具有测试成本低、操作简便、测试快捷、高分辨、高重复性、测试准确、性能稳定等特点,成为纳米颗粒表征应用最广泛的技术和产品。
仪器采用动态光散射(DLS)技术测量粒径以及电泳光散射(ELS)技术测量Zeta电位。报告简要阐述了这两种技术原理,从原理到应用探讨影响测试的因素,并举例分析在提高仪器测试性能方面的一些研究结果。希望对关注该技术应用和产品的使用者有所帮助。