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1.扫描系统: 1.1 扫描模式:STM恒流/恒高模式,I-Z/I-V曲线测量;AFM接触/横向力/轻敲/相移模式,力曲线测量 1.2 最大扫描范围:50μm*50μm扫描器(可选配100μm*100μm扫描器) 单一大量程自适应扫描器不更换技术,最大100μm扫描器可达HOPG
品牌:MicroNano
货号:AFM-III型
上海卓伦微纳米设备有限公司
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