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- 场发射扫描电子显微镜(SEM)测试
- 山东
- 2025年12月25日
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- 提供商：
菲优特
- 服务名称：
场发射扫描电子显微镜(SEM)测试
- 规格：
项
【服务内容】
1、材料表面、断面形貌观察；
2、该电镜配有附件EDAX 能谱仪，用于微区成分定性定量分析；
3、电子背散射衍射仪，用于晶体结构、晶体取向、晶粒分布、应力分布等分析。
【样品要求】
1.粉末、液体、薄膜、块体均可；
2.尺寸要求：块体样品<2x2x1cm；
3.磁性样品和非磁性样品均可进行测试。
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文献和实验Laser Microscope ，又译作共轭焦显微镜 ) 。 此外比较常见的还有电子显微镜，电子显微镜是以电子束发展出的显微镜，可分为扫描电子显微镜 (scanning electron microscope ， SEM) 和透射电子显微镜 (transmission electron microscope ， TEM ) 在生物医学上被广泛运用。观察原子可使用扫描隧道显微镜或场发射显微镜。
束的加速用的。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，必须制备更薄的超薄切片（通常为50-100nm）。其制备过程与石蜡片片相似，但要求极严格。 透射式电子显微镜主要特点为热场发射电子枪、分析型高分辨极靴．高分辨分析型电镜等。主要用于显微结构分析、晶粒形貌、晶体缺陷、纳米颗粒大小，界面结构、高分辨晶格像、微区成分分析等。透射式电子显微镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构。 5. 扫描式电子显微镜(SEM) 扫描式电子显微镜(SEM)主要由提供并聚集电子于标本
一、扫描电子显微镜的工作原理 扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为5～35keV 的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射（以及其它物理信号），二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次
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