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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列

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  • 博曼 Bowman
  • B系列
  • 美国芝加哥
  • 2025年07月16日
    • 详细信息
    • 技术资料
    • 保修期

      1年

    • 现货状态

      有货

    • 供应商

      安柏来科学仪器

    • 规格

      进口XRF镀层测厚仪

    博曼B系列产品概述:

    - B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式,配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。样品仓采用开槽配置,但没有可编程的XY样品台。
    - B系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。


    博曼B系列可满足以下类型用户的需求:

    - 样品测试量相对较小
    - 样品仅需测量一个位置
    - 大型线路板镀层的抽检
    - 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升
    - 符合IPC-4552A


    博曼B系列产品参数:

    类别 参数
    元素测量范围: 13号铝元素到92号铀元素
    X射线管: 50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
    探测器: 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
    分析层数及元素数: 5层,每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
    滤波器:

    4位置一次过滤器/单规格准直器

    焦距: 激光固定焦距(可选多焦点)
    数字脉冲器: 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
    计算机: 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位
    相机: 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
    电源: 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
    重量: 34kg
    可编程XY平台:
    延伸可编程XY平台:
    不可用
    不可用
    样品仓尺寸: 高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:340mm(13")
    外形尺寸: 高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24")


    关于美国博曼:

    美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。



     

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