
微焦三维CT检测仪
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- 真测科技--重庆大学ICT中心
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- CD-130BX/μCT
- 2025年07月15日
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系统特点:
先进的微纳CT三维图像重建处理系统CDVAS 4.0
定量化测量分析功能,实现高精度直接测量
高功率微米CT,适用于工业金属材料复杂构件的3D检测,同时3D测量技术能够对复杂工件的内部实现非破坏性测量。
技术参数:
最大管电压:20~150kV
最大管功率:30W
空间分辨力:5~10µm
最大检测直径:φ130mm
工件最大重量:50kg
二维DR和三维CT功能
CAD比较+三维测量:支持(可选)
系统尺寸:2200mm×1100mm×2000mm
仪器表面剂量泄漏率:0. 5µSv/h
系统重量:2.5 t
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文献和实验1952年,Nomarski在相差显微镜原理的基础上发明了微分干涉差显微镜(differential interference contrast microscope)。DIC显微镜又称Nomarski相差显微镜(Nomarki contrast microscope),其优点是能显示结构的三维立体投影影像。与相差显微镜相比,其标本可略厚一点,折射率差别更大,故影像的立体感更强。 DIC显微镜的物理原理完全不同于相差显微镜,技术设计要复杂得多。DIC利用的是偏振
,作用是使透过聚光器的光线形成空心光锥,焦聚到标本上。2、相位板(annular phaseplate)在物镜中加了涂有氟化镁的相位板,可将直射光或衍射光的相位推迟1/4λ。分为两种: ①A+相板:将直射光推迟1/4λ,两组光波合轴后光波相加,振幅加大,标本结构比周围介质更加变亮,形成亮反差(或称负反差)。 ② B+相板:将衍射光推迟1/4λ,两组光线合轴后光波相减,振幅变小,形成暗反差(或称正反差),结构比周围介质更加变暗。 图2-8 相差显微镜照明原理 图2-9 一种介壳
能量谱仪。 AES 可作表面成分、结构及价态的分析。由于电子束易聚焦、易控制,可在试样表面扫描,作成扫描俄歇微探针( SAM )。谱仪中可装有氩离子枪用以清洗试样表面,也可对试样进行溅射,逐层剥离其表面后可作深度分析,即达到三维分析的目的。电子能谱取样范围可以小于 1 μ m ,灵敏度可达到 10 - 18 g 。电子能谱分析也是一种无损分析方法。 电子探针、电子能谱等仪器在固体物理、表面化学、催化剂、材料科学、半导体、金属学、摩擦学等方面有重要应用。
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