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- 2025年07月09日
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新一代SEM（扫描电镜）、TEM（透射电镜）、XTEM（剖面透射电镜）和FIB（聚焦离子束）样品制备设备！
常规的离子减薄仪离子源能量较大，非常容易破坏样品的微观结构，而且很难看到材料真实的自然状态下的纳米结构；
而该设备采用低能离子源，在有效避免样品的微观结构被损伤的基础上，大大提高了电镜图片的清晰度，进而可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来。
离子能量连续可调：100~10000eV；
离子电流连续可调：7~90uA；
离子束减薄样品角度：0~45度；
试样自动旋转或摆动角度：0~120度；
低能离子源（超低能离子源）；
自动控制真空系统；
真空Load-Lock试样装载系统；
设计紧凑；
全自动电脑程序控制减薄和抛光过程；
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文献和实验3D Imaging of Cells and Tissues by Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy (FIB/SEM)
Integration of a scanning electron microscope (SEM) and focused ion beam (FIB) technology into a single FIB/SEM system permits use of the FIB as a nano-scalpel to reveal site-specific subsurface microstructures which can be examined in great
Low-energy electron diffraction (LEED) 低能电子衍射 Magnetic force microscopy (MFM) 磁力显微镜 Near-edge x-ray adsorption fine structure (NEXAFS) 近边X射线吸收精细结构 Near field scanning 近场扫描 Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) 反射高能电子衍射 Scanning
Nanofluidic Channel Fabrication and Manipulation of DNA Molecules
, nanofluidic channel arrays that have widths of approximately 40 nm, depths of 60 nm, and lengths of 50 μm are created rapidly and exactly by a focused-ion beam milling instrument on a silicon nitride film; and the open channels are sealed with anodic bonding
