扫描电镜、透射电镜

一、服务简介

电镜技术包含扫描电镜（scanning electron microscopy, SEM）以及透射电镜（transmission electron microscope, TEM）。

扫描电镜是通过聚集的高能电子束在样本表面进行扫描，从而激发出样本的各种物理信息。通过收集，放大，呈现为图像，从而观察到样本表面的形貌特征。

透射电镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。透射电镜可以观察光学显微镜下无法看清的小于0.2 μm的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。