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- 蔡司Sigma系列场发射扫描电子显微镜（SEM）
- 2025年07月15日
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【产品简介】
蔡司新一代场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高质量的成像和分析能力，将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。利用Sigma系列直观的4步工作流程，在更短的时间内获得更多的数据，提高测试与生产效率。可选配多种探测器，以满足半导体、能源等新材料、磁性样品、生物样品、地质样品等不同的应用需求。结合蔡司原位电镜实验平台，可以实现自动智能化的原位实验工作流程，高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。领先的EDS几何设计保证了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手”。
【产品特点】
- 独特的Gemini镜筒设计，低电压高分辨，无漏磁
- 广泛全面的应用场景
- 丰富灵活的探测手段
- 智能高效的工作流程
- 先进可靠的分析系统
- 强大完善的扩展平台
【应用领域】
- 材料科学，如纳米材料高分辨成像，高分子聚合物等不导电样品成像，电池材料成分衬度成像，二维材料分析
- 生命科学，如生物样品超微结构成像，冷冻样品高分辨成像
- 地质矿物学，如地质样品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼联用分析
- 工业应用，如组件失效分析，工艺诊断
- 电子半导体行业，如质量控制与分析，6英寸Wafer快速换样，电子束曝光技术（EBL）
- 钢铁行业，如夹杂物分析，金属材料自动原位成像分析
- 刑侦、法医学
- 考古学、文物保护与修复
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