
半导体参数测试仪
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- 2025年07月15日
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1
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keithley
- 现货状态:
非现货
- 保修期:
1
- 规格:
4200
主要特点及优点
§ 直观的、点击式Windows®操作环境
§ 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA
§ 新的脉冲和脉冲I-V能力用于先进半导体测试
§ 新的示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能
§ 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
§ 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
§ 内置stress/measure、looping和数据分析用于点击式可靠性测试,包括五个符合JEDEC的范例测试
§ 支持多种LCR表、吉时利开关矩阵配置与吉时利3400系列和安捷伦81110脉冲发生器等多种外围设备
§ 包括驱动软件,支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200和PA-300、micromanipulator 的8860 自动和手动探针台
§ 先进半导体支持包括吉时利提供的IC-CAP器件建模包驱动程序并支持Cadence BSIM ProPlus/Virtuoso 和Silvaco UTMOST器件建模工具
容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows NT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。更多特性使stress-measure能力适合广泛的可靠性测试。
相关应用
§ 半导体器件
§ 片上参数测试
§ 晶圆级可靠性
§ 封装器件特性分析
§ C-V/I-V 特性分析,需选件4200-590高频C-V分析器
§ 高K栅电荷俘获
§ 受自加热效应影响的器件和材料的等温测试
§ Charge pumping用于MOSFET器件的界面态密度分析
§ 电阻性的或电容性的MEM驱动器特性分析
§ 光电子器件
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3 装夹试样后封口的透湿杯 将封好的透湿杯放进W3/030水蒸气透过率测试仪的测试支架上,关闭测试腔。设置试验参数,开始测试。整个试验过程自动结束,无需人工干预,试验结果在软件中显示。 本次试验,硅凝胶贴膜的水蒸气透过量的结果为19.463 g/(m²·24h)。 总 结: 本次测试采用Labthink兰光研发的称重法W3/030水蒸气透过率测试仪,能够精确的测量出硅凝胶贴膜产品的水蒸气透过量,较好的反映出产品的透湿性能。硅凝胶贴膜以其无损的治疗方法,在瘢痕治愈中具有其他方法无可
微孔滤膜过滤法做为一种重要的除菌和除颗粒的方法,已经在制药,颗粒检测及分析仪器的样品处理中广泛应用。做为实验室最为常见的针头式过滤器除了需要做溶出检测,化学兼容性的检测之外,还应做完整性测试。过滤器的完整性是过滤产品中很重要的一个指标,一个过滤系统在过滤前后是否能保证其完整性,也是衡量一个过滤产品质量优劣的重要参数。对于过滤工艺,尤其是除菌级的过滤而言,完整性测试是一种必要的手段,以确保过滤的安全可靠性,避免工作中不必要的浪费,包括时间,精力,过滤样品等。通过完整性测试,可以确保:1.过滤
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