二次离子质谱  IMS 7f

二次离子质谱 IMS 7f

。 主要功能: 质谱分析-表面微区元素组成 痕量元素深度剖析 二次离子成像及显微图像分布(2&3D) 稳定同位素丰度比 放射性颗粒分析 地质定年 二次离子质谱 IMS 7f 1、全球众多独立分析实验室的主力军 2、通用磁扇区二次离子质谱仪:比飞行时间(TOF)SIMS要快,比四级杆
品牌CAMECA货号123

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