表面形貌仪

美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导

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三维表面形貌仪

美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半

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三维表面轮廓仪

美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导

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不溶性微粒检查仪

本仪器采用英国普洛帝技术—“光阻测量颗粒”，并可根据用户的要求，内置用户所需多种标准。 引用精密柱塞泵和超精密流量电磁控制系统，实现进样速度恒定和进样体积准确的双控制，取样量1ml~无限大随意设定，准确无误。可以对液体颗粒度、清洁度、污染物进行监测和分析；制药设备及其日常维护和保养

¥138000

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三维非接触式光学轮廓仪

、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太阳能电池、膜厚、光学元件

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智能微粒检测仪

极大的优势； l微粒检测仪采用先进的柱塞泵取样系统，取样速度稳定，取样精度高，取样体积可任意设定，适应不同的取样体积，最小取样体积1.25ml ，可适合药品小容量注射液的要求：最大取样体积500ml ，可适合一次性输液器具的要求； l针对一次性输液器具大容量检测，检测速度快，检测效

￥3800

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三维光学轮廓仪

美国NANOVEA公司的三维光学轮廓仪 三维光学轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太

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三维表面形貌测量系统

美国NANOVEA公司的三维表面形貌测量系统 三维表面形貌测量系统(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、

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