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数字恒流电源名 称 型 号 出厂价 （元） 主 要 技 术 指 标 数字恒流电源 WLS-01A 3200 恒流范围：0~100mA 电流分辨率：1mA 电压分辨率：0.1V WLS-1A 4050 恒流范围：0~1A 电流分辨率：1mA 电压分辨率：0.1V WLS-2A 3600 恒流范
品牌：南大普阳
货号：WLS-01A/1A/2A/5A
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¥1-4600 |
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表面形貌仪美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导
货号：ST400
供应商：NANOVEA
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三维表面形貌仪美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半
品牌：NANOVEA
货号：profiler
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询价 |
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三维表面轮廓仪美国NANOVEA公司的三维非接触式光学轮廓仪 三维非接触轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导
货号：CR750
供应商：NANOVEA
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不溶性微粒检查仪本仪器采用英国普洛帝技术—“光阻测量颗粒”，并可根据用户的要求，内置用户所需多种标准。 引用精密柱塞泵和超精密流量电磁控制系统，实现进样速度恒定和进样体积准确的双控制，取样量1ml~无限大随意设定，准确无误。可以对液体颗粒度、清洁度、污染物进行监测和分析；制药设备及其日常维护和保养
品牌：普洛帝/puluody
货号：pld601a
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¥138000 |
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三维非接触式光学轮廓仪、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太阳能电池、膜厚、光学元件
品牌：NANOVEA
货号：非接触式轮廓仪
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智能微粒检测仪极大的优势； l微粒检测仪采用先进的柱塞泵取样系统，取样速度稳定，取样精度高，取样体积可任意设定，适应不同的取样体积，最小取样体积1.25ml ，可适合药品小容量注射液的要求：最大取样体积500ml ，可适合一次性输液器具的要求； l针对一次性输液器具大容量检测，检测速度快，检测效
货号：12
数量：大量
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￥3800 |
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三维光学轮廓仪美国NANOVEA公司的三维光学轮廓仪 三维光学轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太
货号：ST400
供应商：环球（香港）科技有限公司
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三维表面形貌测量系统美国NANOVEA公司的三维表面形貌测量系统 三维表面形貌测量系统(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、
品牌：NANOVEA
货号：3D profiler
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