FB自动内校电子分析天平

Ф 90 毛重 ( kg) 8 净重 (kg) 6 外形尺寸（ mm ） 365 × 223 × 338 外箱尺寸（mm） 500 × 310 × 450 FB自动内校电子分析天平功能特点概述： 1、内校装置 内校砝码标定 2、模块化电磁力平衡传感器 3、 量程指示白光大屏幕液晶

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上海恒平 JY/YP电子天平

JY/YP电子天平功能特点概述： 1、选配双面显示功能 2、秤盘128mm 3、液晶背光显示 4、称重稳定时间≤3s 5、交直流两用 6、计数功能 7、克、克拉、英镑、盎司四种转换方式 电子天平​使用说明 1、 将天平置于稳定的工作台上避免振动、气流及阳光照射。 2、 在使用前调整

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上海恒平 JA电子精密天平JA12002

而产生误差。 JA电子精密天平技术参数： 型号 MP1100B JA12002 JA21002 JA31002 JA41002 JA50002 称量范围（ g ） 1100 1200 2100 3100 4100 5000 可读性 (g) 0.01 0.01 0.01 0.01 0

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上海恒平 FB自动内校电子分析天平

FB自动内校电子分析天平功能特点概述： 1、内校装置 内校砝码标定 2、模块化电磁力平衡传感器 3、 量程指示白光大屏幕液晶显示器 4、轻触按键 5、内藏式下称吊钩 6、玻璃移门运输保护锁 7、RS232 接口模块 USB接口模块 内置时钟 8、独立清零、去皮按键 双向通讯 9、四

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天平

技术参数： 型 号：FA2204B 称量范围：0-220g 可读性精度：0.1mg 称盘尺寸：Φ80mm 净 重：6.8kg 外 形 尺 寸：350×215×340mm 工作空间高度：240mm 校准方式：外部校准 产品介绍 FA-B系列电子分析天平是采用电磁平衡式传感器技术来进行

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Explorer国产分析天平（内校）

AutoCal 自动校准功能，当感应到温度变化过大可能影响称量精度时，每隔11个小时或温度每变化1.5度天平自动启动校准 ◆ 超大彩色触摸显示屏，可识别图形符号，简单直接的菜单导航，14种独有的应用程序，并可调整显示屏角度，触摸屏坚固耐用，方便使用者用手指或手写笔直接点触，反应快速

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AR分析天平

、液体及多孔材料的密度。(此功能需要配合OHAUS的密度组件) 密度电子天平可以执行四种密度测量的方法，这些方法如下 ◆ 密度大于水的固体 ◆ 密度小于水的固体 ◆ 液体密度 ◆ 多孔材料（入渗油，轴承材料） 密度测量的原理 ◆ 物体的密度为其质量与体积的比值，具体公式：ρ＝m/V

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AX精密天平

产品简介 简单介绍 快速稳定且准确的称量特性，确保了天平的理想称量结果一三者结合，确保让您在实验室称量中用最短时间，获取精准的称量结果。 彩色触摸显示屏和U盘数据保存功能，带来更现代化的称量体验一宽视角彩色触摸屏方便您对天平的称量操作和应用设置。前置u盘读取接口方便保存历史称量数据

¥9980

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Secura系列电子天平

产品页面：http://microsite.sartorius.com/cn/secura 创新点 上市时间：2013年6月 Secura®-实现轻松、可靠称量 全新的 Secura 系列实验室天平，远远超越了计量的新标准。 除了技术规格以外，1）Secura 系列友好的界面、流畅

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赛多利斯 自动质量比较仪

自动质量比较仪 具有自动加载装置的质量比较仪用于全自动质量比较，能自动加载参考砝码和砝码组。这些质量计量设备适用于E1级和E2级精度的国内主要实验室。赛多利斯质量比较仪的优势在于全自动加载装置，不再需要特殊的圆柱形或堆叠砝码。 产品名称 | 订单号 最大量程 可读性 重复性(典型)

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赛多利斯防爆电脑 TopMix2.Touch

全新TopMix2.Touch为油漆调配室确立了新的标杆：15寸多点触摸显示屏及小巧的体积为在Zone 1 | Class I, Div. 1危险区域内使用提供了独有的便利性。 全新显示技术 15寸彩色多点触摸显示屏既可以裸手又可以戴上手套实现触屏操控。 独有连接能力 创新的单线连

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LiQC-同步测量密度、折光率、pH值和色度值

LiQC 采用顺畅而无缝的自动化方法，掀起了一场液体质量控制的革命。 通过分析工作流程，LiQC 多参数解决方案提高了生产效率和数据安全性。 特色一览： 最多四个不同参数的自动测量 通过条形码扫描仪输入样品数据，高效清洁 有效性和合理性核对 灵活的 LIMS 传输���������

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XP微量天平

0.02 3.5 40×40 XP56DR 11/52 0.002/0.01 0.002/0.014 0.03 3.5/2.5 40×40 DR=变量程；sd=标准偏差 性能特点 ●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响 ●天平校验功能（Bala

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XP分析天平

技术参数 梅特勒 XP系列分析天平技术参数 XP分析天平型号 最大称量值 [g] 可读性 [mg] 重复性 （sd）[mg] 线性误差 [mg] 典型稳定时间 [s] 秤盘尺寸 （W×D）[mm] XP105DR 31/120 0.01/0.1 0.0015/0.06 0.15 1

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梅特勒XP精密天平

0.6 1.2 280×360 XP32000L 32100 1 0.6 0.6 1.2 280×360 XP64000L 64100 1 0.6 0.6 1.5 280×360 DR=变量程；sd=标准偏差 性能特点 量程210g～64100g，可读性0.0001g～0.1g

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ME系列电子天平（分析天平、精密天平）

技术参数 ME系列电子天平（分析天平/精密天平)技术参数 ME系列电子天平型号 最大称量值 可读性 重复性 线性误差 称盘尺寸 内部校准 外部校准 ME54 ME54E 52 0.0001 0.0001 0.0002 90 ME104 ME104E 120 0.0001 0.000

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MS分析天平

技术参数 型号 最大称量值 [g] 可读性 [mg] 重复性（sd） [mg] 线性误差 [mg] 秤盘尺寸 [mm] 校正技术 MS104S 120 0.1 0.1 0.2 Ø90 FACT MS204S 220 0.1 0.1 0.2 Ø90 FACT MS304S 320 0

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XS Ex防爆天平

块传感器（MonoBlocHighSpeed），以最快速度准确称量结果，具有良好的抗冲击、抗过载性能。 ●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求 ●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、动态称量、密度测量 ●GWPExcellenc

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XS微量天平

技术参数 型号 最大称量值[g] 可读性[mg] 重复性(sd)[mg] 线性误差[mg] 典型稳定时间[s] 秤盘尺寸[mm] XS3DU 0.8/3.1 0.001/0.01 0.0008/0.006 0.01 6 Ø27 DU=双量程；sd=标准偏差 性能特点 ●采用分离的称

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XS精密天平

技术参数 型号 最大称量值[g] 可读性 [mg] 重复性（sd） [mg] 线性误差 [mg] 典型稳定 时间[s] 秤盘尺寸 （W×D）[mm] XS203S 210 0.001 0.0009 0.002 1.5 127×127 XS403S 410 0.001 0.0009

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