PSS Nicomp N3000纳米粒度仪Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 基本信息 仪器型号:PSS Nicomp N3000 Plus 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) 检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp 品牌:Particle Sizing Systems 货号:pss-nicomp 3000 dls
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¥300000-600000 |
马尔文帕纳科激光粒度仪Mastersizer 3000Mastersizer 3000 激光衍射粒度分析仪可为干湿法分散提供快速、便捷的粒径分布测试。 该分析仪可在纳米至毫米粒度范围内进行测量,体积小巧、性能稳定可靠,可为所有用户提供无需操作者干预的测量。马尔文帕纳科在粒度分析领域,为世界各地超过10000家公司的Mastersize 研选 文献支持 品牌:马尔文帕纳科 货号:Mastersizer 3000
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超声综合性能检测模体超声综合性能检测模体由彷组织材料构成,适用于对医用超声诊断设备进行全面的性能评估。测量项目包括:盲区、探测深度、横向分辨率、轴向分辨率、灰阶、囊肿模拟等。 优势 单个模体中综合了普通扫描和小目标测量物结构。 扫描的深度范围为1.0到30.0厘米。 由耐用的橡胶底座组织仿真材料制成 品牌:DELTA 货号:GS-delta421
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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。 SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液 品牌:HORIBA 货号:SZ-100 动态光散射纳米颗粒分析仪
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纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView,外泌体NTA检测,便于携带; 防震动; 光源从紫外线到红光; 理论 平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率,可以得到zeta电位。 纳米粒子跟踪分析(NTA)和动态光散射(DLS) 所有的光散射仪器,包括粒子跟踪技术,都存在一个问题:当颗粒大小低于100nm时,灵 品牌:Particle Metrix 货号:ZetaView
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氦质谱检漏仪专业厂家制造迪泰ZXL-830型氦质谱检漏仪 一、产品介绍 ◎ 标准台式机箱,外形美观实用 ◎ 检测量程宽,横跨10个量级 ◎ 检漏口耐压高 ◎ 全液晶触摸彩屏,操作方便 ◎ 检漏状态一键清零 ◎ 中英文菜单界面 ◎ 整机到达国际先进水平 二、主要技术指标 1. 最小可检漏率:5×10-12 品牌:迪泰 货号:ZXL-830
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专业氦质谱检漏仪迪泰ZXL-860型氦质谱检漏仪 一、产品介绍 ◎ 便携式,方便移动 ◎ 快速清氦功能 ◎ 检漏状态一键清零 ◎ 检漏口耐压高 ◎ 检测量程宽 ◎ 中英文菜单界面 二、主要技术指标 1. 最小可检漏率:5×10-13Pa•m3/s 2. 漏率显示范围:1×10-1—1×10-12 品牌:迪泰 货号:ZXL-860
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