PSS Nicomp N3000纳米粒度仪Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 基本信息 仪器型号:PSS Nicomp N3000 Plus 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) 检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp 品牌:Particle Sizing Systems 货号:pss-nicomp 3000 dls
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¥300000-600000 |
马尔文帕纳科激光粒度仪Mastersizer 3000Mastersizer 3000 激光衍射粒度分析仪可为干湿法分散提供快速、便捷的粒径分布测试。 该分析仪可在纳米至毫米粒度范围内进行测量,体积小巧、性能稳定可靠,可为所有用户提供无需操作者干预的测量。马尔文帕纳科在粒度分析领域,为世界各地超过10000家公司的Mastersize 研选 文献支持 品牌:马尔文帕纳科 货号:Mastersizer 3000
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超声综合性能检测模体超声综合性能检测模体由彷组织材料构成,适用于对医用超声诊断设备进行全面的性能评估。测量项目包括:盲区、探测深度、横向分辨率、轴向分辨率、灰阶、囊肿模拟等。 优势 单个模体中综合了普通扫描和小目标测量物结构。 扫描的深度范围为1.0到30.0厘米。 由耐用的橡胶底座组织仿真材料制成 品牌:DELTA 货号:GS-delta421
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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。 SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液 品牌:HORIBA 货号:SZ-100 动态光散射纳米颗粒分析仪
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纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView,外泌体NTA检测,便于携带; 防震动; 光源从紫外线到红光; 理论 平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率,可以得到zeta电位。 纳米粒子跟踪分析(NTA)和动态光散射(DLS) 所有的光散射仪器,包括粒子跟踪技术,都存在一个问题:当颗粒大小低于100nm时,灵 品牌:Particle Metrix 货号:ZetaView
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马尔文帕纳科 Morphologi 4 快速自动化粒度和粒形分析Morphologi 4 是一个全自动静态图像分析系统,可测量干粉颗粒,混悬液和滤膜上颗粒的粒径和形貌。它旨在满足多学科研发实验室的多样化需求,是昂贵且耗时的手动显微镜的理想替代工具。由于完全自动化运行且数据分析简单,与手动方法相比,节约大量的时间。仅需简单标准化操作程序 (SOP 品牌:马尔文帕纳科 货号:Morphologi 4
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马尔文帕纳科Morphologi 4-ID 颗粒粒度粒形及成分特性分析。 MDRS 技术表征样品颗粒的粒度粒形及成分特性 Morphologi 4 的各项功能与专用拉曼平台相结合,可在单个自动化测量中进行物理和化学颗粒表征 可自动测量成百上千个颗粒的拉曼光谱,节省了分析员宝贵的时间 直观的软件可确保经验丰富和没有经验的光谱学家也同样适用 形态属性与化 研选 文献支持 品牌:马尔文帕纳科 货号:Morphologi 4-ID
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麦奇克 S3500SI 激光粒度粒形分析仪Microtrac MRB:作为一个颗粒表征解决方案的供应商。我们为客户提供先进的技术,以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。 激光粒度粒形分析仪 S3500SI:一台仪器,具备两种测量技术 - 静态激光衍射法 - 动态图像分析法 操作软件:提供强大的数据处理能力,包括 品牌:Microtrac MRB/麦奇克 货号:S3500SI
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薄膜厚度监视器MTM-10 &MTM-20 高分辨率薄膜厚度监视器 仅适用于Cressington Sputter和Carbon Coaters 高分辨率厚度监视器和厚度控制器基于以下原理:石英晶体的振荡频率由其上表面上的沉积膜的质量改变。电子测量该效果允许确定沉积膜的厚度。一旦将蒸发的材料的密 品牌:KOSTER 货号:MTM-10 & MTM-20
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