DU416 超低低噪声深耗尽光谱CCD

DU416 超低低噪声深耗尽光谱CCD

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  • andor
  • 英国
  • DU416
  • 2025年07月14日
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    英国Andor公司最新推出的416系列光谱CCD 在保持BRDD (Deep Depletion)CCD近红外效率的同时,将暗噪声降低了一个数量级。很好的解决了近红外量子效率与噪声的矛盾。DU416将成为近红外拉曼、光致发光的理想探测器。CCD采用TE制冷,使用更加方便,却可以得到和液氮制冷相当的暗噪声。

    主要特点:
    1、 近红外光谱范围内具有极高高信噪比,非常适用于拉曼实验。
    2、 量子效率>80%@600nm—900nm;
    3、 像素大小:15umX15um,光谱测试,可得到最佳光谱分辨率;
    4、 成像靶面为30mmX3.8mm具有很宽的一次性摄谱范围;
    5、 TE制冷温度:-95°C,暗噪声0.0006e-/s/pixel
    6、 标配Fringe suppression技术,进一步降低背感光CCD近红外的干涉效应
    7、 USB2.0接口,即擦即用。

    主要技术参数:
    型号 DV416A-LDC-DD DU416A-LDC-DD

    芯片类型
    LDC-DD: 背感光深耗尽CCD,低噪声,带有anti-fringing镀膜(消除干涉条纹)
    有效像素 2000 x 256
    像素尺寸 15 x 15 μm
    探测面尺寸 30 x 3.8 mm with 100% fill factor
    最低制冷温度
    风扇散热
    16度循环水散热
    10度循环水散热

    -55ºC
    -65ºC
    -70ºC

    -80ºC
    -90ºC
    -95ºC
    最大光谱速度每秒 30 (Full Vertical Binning)
    光窗类型 单石英窗口, 1o wedge, 双面放反射镀膜(900nm)
    CCD芯片级别 1级芯片

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