Thermo Fisher Prisma E SEM.扫描电

Thermo Fisher Prisma E SEM.扫描电镜电子显微镜

Thermo Scientific Prisma E SEM扫描电镜结合了广泛的成像和分析模式以及先进自动化功能，和同类仪器相比，可提供最完整的扫描电镜分析解决方案。对于工业研发、质量控制和失效分析应用领域，需要一台具有高分辨成像，广泛的样品兼容性，简单易用的用户界面的扫描电镜，Prisma E环境扫描电镜是这类应用的理想选择。Prisma E环境扫描电镜是在前代Quanta SEM扫描电镜基础上的又一次成功实践。

全面的性能，强大的附近扩展能力，以及结合Thermo Scientific ChemiSEM 技术所实现最直观的元素分析能力，使Prisma E在任何行业或领域都能够实现微米/亚微米级成像和分析。

 

Prisma E环境扫描电镜的主要特点

触手可及的元素信息

通过选配 ChemiSEM 技术和集成能量色散 X 射线光谱(EDS)进行实时成分面分布以实现直观元素分析。这种始终在线的分析能力可极大提高您的工作效率，并获取最完整的样品信息。

出色的图像质量

灵活的真空模式以及通过透镜抽真空技术，使Prisma E环境扫描电镜可在低电压和低真空下获得出色的图像质量。且在每个操作模式下，都可实现二级电子和背散射电子同时成像。

减少样品制备时间

低真空和ESEM环境扫描电镜功能可对非导电和/或含水样品进行无电荷/或无脱水成像和分析。

对自然状态下的材料进行原位研究

凭借 Prisma E的环境扫描电镜 (ESEM) 模式、可在样品加热、放气或潮湿的状态下直接成像。

优异的分析能力

仓室支持最多安装3 个 EDS 探测器，其中两个EDS接口呈180°对称，并可安装波长色散光谱 (WDS)、共面 EDS/EBSD，并可在低真空模式下实现高质量无电荷 EDS 和 EBSD 分析。

易于使用

Prisma E环境扫描电镜相关操作软件具有用户指南和撤消功能，可以使新手用户进行高效的操作，也可极大减少专家级用户的操作负荷。

 

Prisma E环境扫描电镜的相关应用

 

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜和TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件，为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

 

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具，使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

 

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料，以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

 

半导体探索和开发
先进的电子显微镜、聚焦离子束和相关半导体分析技术可用于识别制造高性能半导体器件的可行解决方案和设计方法。

 

良率提升和计量

我们为缺陷分析、计量学和工艺控制提供先进的分析功能，旨在帮助提高生产率并改善一系列半导体应用和设备的产量。

 

半导体故障分析
越来越复杂的半导体器件结构导致更多隐藏故障引起的缺陷的位置。我们的新一代半导体分析工作流程可帮助您定位和表征影响量产、性能和可靠性的细微的电子问题。

 

物理和化学表征

持续的消费者需求推动了创建更小型、更快和更便宜的电子设备。它们的生产依赖高效的仪器和工作流程，可对多种半导体和显示设备进行电子显微镜成像、分析和表征。