JW-BK型静态容量法比表面纳米测试仪

JW-BK型静态容量法比表面纳米测试仪

技术参数：

原 理： 氮吸附、多层吸附理论、毛细凝聚理论

方 法： 静态容量法

功 能： ＢＥＴ比表面（包括相关常数及系数）测定

　　 　 Ｌａｎｇｍｕｉｒ比表面测定

　　　 等温吸、脱附曲线测定

　　　 从吸附曲线测定ＢＪＨ孔径分布、总孔体积和平均孔径

　　　 从脱附曲线测定ＢＪＨ孔径分布、总孔体积和平均孔径

气 体： 高纯氮气

氮 分 压： 0.０１～０．９９５,最小可分辨相对压力(P/P0) : 5×１０－4

极限真空度：６．８×１０－２Ｐａ

压力精度： ０．２5％

样品数量： １个测试样品

　　　 ２个内置脱气站可同时进行样品预处理（温度可单独设定）

样品数量及检测站数量可根据用户要求扩展

测试范围： 比表面　≥ 0.01M2/g , 无规定上限, 孔径0.7～ 4００ｎｍ

测试精度： ≤±２%

测试效率： ＢＥＴ比表面每个样品15分钟,从吸附等温曲线测定BET比表面及Ｂ ＪＨ孔径分布 ~100分钟,从吸、脱附曲线测定BET比表面及ＢＪＨ孔径分布 ~3.５小时

运行方式： 在输入试验条件后，计算机控制全自动运行

脱气系统： 同机设有两个样品的预处理工位，每个样品可以单独设定预处理温 度和处理时间，温度可控范围 50 ~ 400 °C ± 1 °C，测试样品也可于原位进行预处理并接下去进行测试

软 件： 在Windows平台上提供自动控制和数据处理/报告系统，软件功能强 大，界面友好 ，操作方便，指导用户进行分析设置、预置参数,操作设置、数据处理、图形和报告输出等，在操作期间可以查看被测点以前的累积数据、相关的图形和分析，测试结束后通过快捷预览窗口直接看到全部结果

外形尺寸： 50×35×７０

主机重量： 3４Kg

产品特点:

１．自主知识产权，功能与性能达到国际同类水平，在比表面及介孔测定范围， 可以代替进口；

２．自动化程度很高，可以做到长时间无人值守；

３．可靠的无泄漏(10-9cc/sec)无污染的真空系统；

４．极佳稳定性的高灵敏压力传感器 ( 精度： 0.25% )；

５．特有的相对压力-平衡时间的自由设置及全自动控制及平衡技术；

６．独特的真空及气路设计，采用了独有的内置式微型调节系统；

７．特有的仪器有效体积及非均匀温度场的校定方法；

８．软件功能齐全，界面友好，使用方便；

９．可以单从吸附曲线得出ＢＪＨ孔径分布、总孔体积和平均孔径，测试时间可 以节省一半；

１０．只用氮气,不用氦气,而且氮气的消耗量很低，大大降低了测试成本；

１１．高质量的液氮杜瓦瓶及巧妙的密封装置，大大降低了液氮的消耗；

１２．实时显示的压力变化曲线，方便操作者了解样品的吸/脱附进程，以及系统　　　　　的工作状态；