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LT2200 激光粒度分析仪

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  • ¥100000 - 200000
  • 真理光学
  • LT2200
  • 中国珠海
  • 2025年07月15日
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      真理光学

    LT2200加持了真理光学首创的衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术的使用,使用户无需选择分析模式,即可在全粒径范围获得准确可靠的粒度结果;LT2200系列粒度仪还采用了真理光学独创的高速全息信号处理技术,测量速度最高可达每秒20000次,确保不漏检任何粒径和形状的颗粒; LT2200系列粒度仪的粒径范围为0.02um-2200um, 适用于制药,电池材料,地质,水文,化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。
     

    LT2200加持了以下多项创新和专利技术:

     

     偏振滤波技术

     衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术

     斜入射反傅里叶光路配置

     格栅式大角度检测阵列技术

     粒度分析模式优化及自适应技术

     连续液位感知及控制技术

     高灵敏度光能跟踪及稳定技术

     

    LT2200光学测量系统的卓越性能还包括:

    完全符合ISO13320衍射法测量技术标准

    ◆ 独特的光路配置,超大连续的物理测量角度
    ◆ 改进型反演算法,用户无需选择“分析模式”,兼顾极高的分辨率和稳定性
    ◆ 无需更换透镜,无需使用标准样校准,量程范围达到0.02微米至2200微米
    ◆ 采用全息信号同步处理技术,实时测量速度最高达每秒20000次,不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息
    ◆ 采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统,彻底克服了氦氖气体激光器预热时间长,使用寿命短的缺点
    ◆ 采用偏振空间滤波技术,彻底摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器

     
    技术指标

    测量原理   激光衍射
    光学模型   全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选
    粒径范围   0.02μm-2200μm,无需更换透镜,不依赖标样校准
    检测系统   包含格栅式超大角度,非均匀交叉面积补偿检测器阵列及高灵敏度后向散射检测单元
    进样方式   湿法分散进样系统:支持SOP一键操作测量,可兼容有机及水相分散介质,样品池容量最大1000毫升,液位连续可调。样品搅拌和循环双电机设计和独立控制,转速0-2500RPM连续可调。内置大功率探头式超声分散系统,分散功率连续可调,支持气泡自动消除技术。(选配Hydrolink进样系统时)
    *干法分散进样系统:支持SOP一键操作测量,分散压力0-4.5Bar连续可调,气流压力控制精度±0.1Bar(选配Aerolink进样系统时)
    测量池
    光源
      平行斜置
    集成恒温系统的638nm,最高20mW固体激光器
    空间滤波方式   非针孔式偏振滤波技术
    光学对中系统   智能全自动
    测量时间   典型值小于10秒
    测量速度   最高可达20000次/秒
    准确度   Dv50优于±0.6% (NIST可溯源乳胶标样)
    重复性   Dv50优于±0.5% (NIST可溯源乳胶标样)
    激光安全   1类激光产品
         
    计算机配置   Intel i5处理器,4GB内存,250GB硬盘,鼠标,键盘和宽屏显示器
    计算机接口   USB2.0或以上
    软件运行平台   Windows7或以上专业版
    操作环境温度   5℃-40℃
    操作环境湿度   10%-85%相对湿度(无结凝)
    电源要求   交流220V,50Hz-60Hz,标准接地
         
    光学系统重量   31kg
    光学系统尺寸   670mm x 275mm x 320mm

    *用户根据实际样品分散需要,可选配对应的分散进样系统

    风险提示:丁香通仅作为第三方平台,为商家信息发布提供平台空间。用户咨询产品时请注意保护个人信息及财产安全,合理判断,谨慎选购商品,商家和用户对交易行为负责。对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况。

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