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专业用于PCB镀层厚度分析的X
射线镀层测厚仪iEDX-150WT1年
现货
韩国ISP公司
1000
840*613*385mm
工作条件 | |
●工作温度:15-30℃ | ●电源:AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相对湿度:<70%,无结露 | ●功率:150W + 550W |
u 测量原理:能量色散X射线分析 | u 样品类型:固体/粉末 |
u X射线光管:50KV,1mA | u过滤器:5过滤器自动转换 |
u检测系统:SDD探测器(可选Si-Pin) | u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV) |
u检测元素范围:Al (13) ~ U(92) | u准直器孔径:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选) |
u应用程序语言:韩/英/中 | u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光 |
u仪器尺寸:840*613*385mm | u样品移动距离:110*110*5 mm(自动台) |
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iEDX-150WT X荧光光谱分析仪设备推荐书.pdf 附 (下载 0 次)