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反射率测定仪
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1年
SFL_1
产品简介SLF-I反射率测定仪 SLF-I反射率测定仪(获得国家专利权,专利号:200320109018.2) SLF-I反射率测定仪主要用于漆膜遮盖力的测定和反射率的测量,完全符合国家标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88对该仪器的规定。获得计量产品生产许可证。技术参数:测量范围:0~100 输入电源:220V,50Hz 重复精度:0.3%,示值误差±1 环境范围:25℃,相对湿度<85%
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