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氩离子研磨仪IB-09060C
低温冷冻离子切片仪IB-09060CIS™ 带有样品冷却系统,对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
易受热损伤的样品,也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长,有效地抑制了热损伤。
通过液氮制冷,减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。 可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*
冷却保持时间长,大大减少了热损伤。 在装有液氮的情况下,也可以交换样品。 *最大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。
低温冷冻离子切片仪IB-09060CIS™
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