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NanoFocus μscan custom三维激光扫描轮廓

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  • 2025年07月09日
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    NanoFocus μscan custom三维激光扫描轮廓仪

    品牌:德国NanoFocus
    型号:μscan custom

    产品介绍
    μscan系列机台采用模块化设计,特点是快速测量、不接触、不破坏、自动化。主要应用于材料表面的三维轮廓测量,粗糙度测量,宽度,高度,角度,半径、粗糙度等二维、三维数据分析。能直接测量较大面积的样品,而不用通过拼接。
    μScan的中心部件扫描模块(x/y方向样品扫描)可以和不同的传感器(Z方向测量)连用,如Confocal point sensor(CF)、Autofocus sensor(AF)、Chromatic white light sensor(CLA)、Holographic sensor(CP)等。目前主配的是连接CF4激光共聚焦传感器。
    CF4激光共聚焦传感器内,被照亮的小孔成像在被测量的表面,激光光束经由物镜迅速上下移动聚焦于待测物上,只有当焦平面和真实表面的点配对的时候,探测器才记录到一个表面信号。因此物镜得通过小的垂直步位移动,使信号通过位移传感器的位置移动被测出。根据特殊的内插技术,该系统的精度能达到10nm以下。


    应用
    ü 集成电路封装和表面贴装:快速获得封装翘曲变形、引线共面性、粗糙度、焊料的体积、引线轮廓。
    ü 厚膜混合电路:膜厚度的自动化测量
    ü 精密部件:测量精密五金配件、塑料、半导体材料的轮廓、粗糙度等

    技术参数
    1. 测量原理:非接触,激光共聚焦
    2. 扫描模块:
    2.1 XY方向测量范围50X50mm/100X100mm/150X100mm/200X200mm(可选),马达驱动
    2.2 XY方向平台分辨率0.5um
    2.3 Z方向位移范围100mm
    2.4 最大测量速度50mm/S.
    3. 传感器模块
    3.1 共聚焦传感器,激光光源1.5 µm spot size,1 kHz data rate
    3.2 Z方向分辨率0,02um
    3.3 XY方向分辨率1um,可连续一次扫描成像,最大范围达到200mmX200mm
    3.4 工作距离 4mm
    3.5 Z方向测量范围1mm
    4 系统配置
    4.1 计算机:高性能计算机控制系统;
    4.2 配有专业工作台, 尺寸L1000 x H750 x W800 (mm)
    4.3 可为CF传感器选配离轴摄像头(10X),最大视野8 x 6 mm²
    4.4 功能全面的软件
    4.5 数据分析:轮廓测量、宽度,高度,角度,半径、粗糙度等二维、三维数据分析


    设备咨询联系人:
    Ronnie Chen +86-13651969369 +86-21-61533166

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    图标文献和实验
    相关实验
    • 激光扫描共聚焦显微镜系统及其在细胞生物学中的应用

      校准;计算机调节孔径大小;自动Z轴调节(最小0.1μm)。光学探测系统:3个测窗式PMT采集荧光;1个CCD系统;12位的高速A/D转换器。 图像分辨率:图像大小1535×1535;像素最小距离:0.1μm;灰度为4096级。 扫描方式:快速镜扫描Dual Scan台阶扫描;扫描精度0.1μm;扫描面积最大为10cm×8cm ;扫描平面:XY和XZ和独特点、线、面扫描。 2.2激光扫描共聚焦显微镜软件系统 ACAS ULTIMa 312系统采用独特设计的软件将激光细胞仪与先进的计算

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