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- 2025年07月16日
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赛默飞世尔科技
Apreo 2 SEM 场发射扫描电镜
1.亚纳米分辨力
2.丰富的探测器配置带来多种成像模式
3.大工作距离仍能保持优异的分辨力
4.自动化和智能化的操作流程，电镜新手也能轻松掌握
全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可进行高分辨率成像，并且可以扩展至材料的元素分析。凭借独特的实时元素成像功能，即 Thermo Scientific ColorSEM 技术，可以通过最直观的界面实时获取元素组分信息。ColorSEM 技术消除了与典型 EDS联用的所有复杂操作，为您提供前.所未有的快捷和易用性。
凭借 Thermo Scientific SmartAlign 技术（软件自动光学对中），Apreo 2 SEM 对用户和实验室管理人员的要求非常低。此外，Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技术，可实现自动电子束对中、消像散和聚焦等操作，这项技术的推出意味着即使是扫描电镜的新手用户也可以轻松获得 Apreo 2 SEM 的极.致性能。此外，Apreo 2 SEM 是唯一一款在 10 mm 分析工作距离具备 1 纳米分辨率的 SEM。大的工作距离不再意味着牺牲成像效果，使用 Apreo 2 SEM，任何人都能容易地获得出色的结果。
场发射扫描电镜Apreo SEM的主要特点
优异的空间分辨率及衬度
高分辨率——对于大多数样品都能达到纳米或亚纳米级别的空间分辨率。采用镜筒内同步成像、信号过滤、复合透镜等技术，帮助提升性能，达到最佳的分辨率。
广泛的样品适用性
对于多种样品类型都有极.佳的样品灵活性，包括绝缘体、敏感材料、磁性材料等等。这样的灵活性帮助用户获取感兴趣样品的更多的数据。
利用ColorSEM技术实时获取定量能谱数据
只需指尖轻轻点击就可以获取元素信息，实现实时定量面分布，带来前所.未有的体验与易用性。
快速简便的样品装载过程
标配的样品台可以一次性容纳多个样品，抽真空过程控制到最短时间，保证进样过程不浪费时间，更加便利地装载样品。同时配备自动插拔的压差光阑（PLA）可以实现高真空与低真空模式之间在毋须开样品仓的条件下一键切换。
高度自动化
高度自动化技术包含FLASH技术（用于自动图像微调）、撤销、用户教程、图像倾斜与拼接。
大工作距离成像
市场上唯一的在大工作距离（10mm）下仍然保持高空间分辨率（1nm)性能和优异的图像质量的扫描电镜，即使对于新手用户，也极易上手操作。
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文献和实验电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。二、扫描电镜的特点1.可以观察直径为0 ～30mm的大块试样（在半导体工业可以观察更大直径），制样方法简单。2.场深大（三百倍于光学显微镜），适用于粗糙表面和断口的分析观察；图像富有立体感、真实感、易于识别和解释。3.放大倍数变化范围大，一般为15 ～200000 倍，对于多相、多组成的非均匀材料便于低倍下的普查和高倍下的观察分析。4.具有相当高的分辨
束的加速用的。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，必须制备更薄的超薄切片（通常为50-100nm）。其制备过程与石蜡片片相似，但要求极严格。 透射式电子显微镜主要特点为热场发射电子枪、分析型高分辨极靴．高分辨分析型电镜等。主要用于显微结构分析、晶粒形貌、晶体缺陷、纳米颗粒大小，界面结构、高分辨晶格像、微区成分分析等。透射式电子显微镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构。 5. 扫描式电子显微镜(SEM) 扫描式电子显微镜(SEM)主要由提供并聚集电子于标本
KV间的电子束，以光栅状扫描方式照射到被分析试样的表面上，利用入射电子和试样表面物质相互作用所产生的二次电子和背散射电子成象，获得试样表面微观组织结构和形貌信息，并且具有较高的分辨率。由于超高真空技术的发展，场发射电子枪的应用得到普及，现代先进的扫描电镜的分辨率已经达到1纳米左右，足够用来进行外泌体尺寸的测量。鉴于SEM的工作特点，在外泌体研究中，能够直接观察到样品中外泌体的形态。并且SEM具有很高的分辨率，能够鉴别不同大小的外泌体。但SEM对样品的预处理和制备上面要求较高，样品的准备阶段比较
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