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扫描探针显微镜,布鲁克MultiMode8高分辨扫描探针显微

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  • 2025年07月15日
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    MultiMode8系统卓越的性能源于其紧凑坚固的机械设计与先进的低噪音SPM控制电路。SPM系统性能的优劣很大程度取决于样品与探针之间的机械路径长度,路径越短受声学和振动噪音的影响越小,同时受到热漂移的影响也越小。另外SPM各功能部件组装稳定性也会影响仪器性能。对仪器细节的考量和技术的不断革新,提升了Multimode系列仪器性能。SPM控制器是保证系统高性能的另一个关键因素,第五代NanoScope V控制器具有先进的数字架构:高数据带宽,低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力,布鲁克采用最先进技术,ScanAsyst模式& PeakForce QNM模式,帮助研究者在各研究领域取得更多研究成果。



    ScanAsyst自动成像软件,适用于大气和溶液各种扫描条件. ScanAsyst采用智能计算方法,连续监控图像质量,根据反馈做出适当的参数调整,系统自动化而完成这一系列工作,为用户提供更快捷优异的测量结果,也大大降低了对操作者的技术要求。全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上实现快速扫描模式。与传统的AFM相比,在其速度提高6倍时仍不损失图像分辨率,获得超高分辨的AFM图像。PeakForceQNM, Bruker独有的纳米尺度机械性能的定量测量,提供更加准确的材料弹性模量和粘附性的测量结果,同时也有利于保持样品和针尖的完整性。


    AFM性能的完美诠释
    MultiMode®是世界上最受欢迎的扫描探针显微镜,得到客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode®扫描探针显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率,完备的仪器性能,以及得到充分验证的数据可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。


    简便易行,轻松获得专业结果

    • 使用最新的自动扫描成像模式ScanAsyst™,研究人员不必再去繁琐地调整Setpoint、反馈增益和扫描速度等参数,不论是在大气下还是在溶液中,都可以轻松获得高质量图像。
    • 在溶液环境下扫描更简便易行,它无需进行寻找探针的共振频率,ScanAsyst始终直接控制针尖样品间的作用力,这样可以消除Setpoint。


    功能强大的定量成像模式

    • Bruker专利的新型成像模式PeakForce™ QNM™,可以对材料纳米尺度的力学性质进行定量检测,在正常的扫描速率下获得高分辨率的材料粘附力和弹性模量图像。与传统的相位成像和某些厂家的多频技术不同的是,使用Peakforce™ QNM™模式可获得精确、定量的实验数据。
    • PeakForce TUNA™模块,能够定量测量样品的导电特性,这是传统的导电模式所不能实现的。
    • 全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上实现快速扫描模式。与传统的AFM相比,在其速度提高6倍时仍不损失图像分辨率,获得超高分辨的AFM图像。最快扫描速度,可比传统的AFM提高20倍。

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    相关实验
    • 简述全内反射荧光显微术的原理和应用(图)

      。于是人们研制了拥有点分辨率0.2nm的电子显微镜。进入80年代,非光学类扫描探针显微术特别是原子力显微镜的出现更是将成像的分辨率推进到纳米的精度。但这些显微技术在不同程度上存在系统结构复杂、成像检测环境要求苛刻等困难,尤其是不能像光学显微术那样提供重要的光学信息(如偏振态、折射率、光谱等)和进行无损伤性生物活体探测,这些因素均严格限制了它们在高分辨率细胞成像中的应用。近年来人们开发出了一系列光学显微镜如:目前国际上公认的最有前途的单分子光学成像技术有全场相衬显微术、共焦荧光显微术,近场光学扫描显微术

    • Protocols-仪器名称中英文对照表

      仪 Electrophoresis System 表面科学 Surface Science 电子显微镜 Electro Microscopy 光学显微镜 Optical Microscopy 金相显微镜 Metallurgical Microscopy 扫描探针显微镜 Scanning Probe Microscopy 表面分析仪 Surface Analyzer 无损检测仪 Instrument for Nondestructive Testing 物性分析 Physical Property

    • 生命科学常用实验仪器名称中英文对照表

      仪 Electrophoresis System   表面科学 Surface Science   电子显微镜 Electro Microscopy   光学显微镜 Optical Microscopy   金相显微镜 Metallurgical Microscopy   扫描探针显微镜 Scanning Probe Microscopy   表面分析仪 Surface

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