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HORIBA SZ-100 V
企业认证
SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。
SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。
· 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数
· 宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%
· 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
· 软件操作简单功能强大,一键测量
· 双光路双角度粒径测量(90° 和173°)
· 采用微量样品池
粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)
粒径测定范围:0.3nm ~10μm
粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)
Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法
Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV
分子量测量原理:Debye plot
分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da
测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)
样品量:12μL ~ 1000μL
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