PSS Nicomp N3000纳米粒度仪Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 基本信息 仪器型号:PSS Nicomp N3000 Plus 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) 检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp 品牌:Particle Sizing Systems 货号:pss-nicomp 3000 dls
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¥300000-600000 |
马尔文帕纳科激光粒度仪Mastersizer 3000Mastersizer 3000 激光衍射粒度分析仪可为干湿法分散提供快速、便捷的粒径分布测试。 该分析仪可在纳米至毫米粒度范围内进行测量,体积小巧、性能稳定可靠,可为所有用户提供无需操作者干预的测量。马尔文帕纳科在粒度分析领域,为世界各地超过10000家公司的Mastersize 研选 文献支持 品牌:马尔文帕纳科 货号:Mastersizer 3000
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超声综合性能检测模体超声综合性能检测模体由彷组织材料构成,适用于对医用超声诊断设备进行全面的性能评估。测量项目包括:盲区、探测深度、横向分辨率、轴向分辨率、灰阶、囊肿模拟等。 优势 单个模体中综合了普通扫描和小目标测量物结构。 扫描的深度范围为1.0到30.0厘米。 由耐用的橡胶底座组织仿真材料制成 品牌:DELTA 货号:GS-delta421
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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。 SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液 品牌:HORIBA 货号:SZ-100 动态光散射纳米颗粒分析仪
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纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView,外泌体NTA检测,便于携带; 防震动; 光源从紫外线到红光; 理论 平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率,可以得到zeta电位。 纳米粒子跟踪分析(NTA)和动态光散射(DLS) 所有的光散射仪器,包括粒子跟踪技术,都存在一个问题:当颗粒大小低于100nm时,灵 品牌:Particle Metrix 货号:ZetaView
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高谦超滤膜孔径分析仪PSMA-20高谦 超滤膜孔径分析仪PSMA-20 核心参数 仪器分类:孔径分析工作站数:2压力范围:0-1MPa测量范围:2~200纳米重复性:高 详细介绍 基于液-液置换原理,PSMA系列超滤膜全自动孔径分析仪可测量2﹣500 nm孔径。除超滤膜外,还可测定纳滤膜、反渗透膜、分子筛膜和致密膜 品牌:南京高谦 货号:PSMA-20
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¥160000 |
高谦滤膜完整性测试仪FIA-50过滤器完整性检测仪符合GMP的完整性测试要求,自动操作,主要用于对不同规格的膜式过滤器(亲水性、疏水性滤膜及滤芯)进行完整性测试。 可通过扩散流、压力衰减、起泡点和水浸入测试确定过滤器的完整性和性能。可用于过滤器在线检测,它只在过滤器的上游进行完整性测试从而保证了下游的无菌性。 产 品牌:南京高谦 货号:FIA-50
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¥35000 |
高谦滤膜完整性测试仪PMA-1000多孔材料孔径分析仪 仪器介绍: 多孔材料孔径分析仪是南京工业大学金属膜研究室自主设计、制造与销售的仪器,其主要是由数字式质量流量计、压力传感器、电磁阀、稳流阀等精密部件组成,通过计算机实现自动测试过程,采集分析并记录实验数据,适用于科研、生产中多孔材料(包括多孔金属、多孔陶瓷、多 品牌:南京高谦 货号:PMA-1000
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¥22000 |
高谦微滤膜孔径分析仪PSDA-30高谦 微滤膜孔径分析仪PSDA-30 核心参数 仪器分类:比表面分析工作站数:2压力范围:0~6bar测量范围:0.05~500微米重复性:高 详细介绍 加工定制:是品牌:GQ型号:PSDA-30H测量范围:0.05~500微米测量精度:0.01微米电源电压:220V用途:孔径分析 品牌:南京高谦 货号:PSDA-30
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¥155000 |
静态法孔径分布测定仪静态法孔径分布测定仪 仪器介绍 专业生产静态法孔径分布测定仪,BET比表面仪,比表面测试仪,比表面测定仪,比表面测试,比表面测定仪,比表面积测试,比表面积及孔径分布测试,孔径分析仪,孔径分布测试,比表面积及孔径分布测试仪,比表面测试仪全自动化孔径分析仪,比表面积仪,孔容积测定仪,孔 品牌:JW 货号:JW-RB
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静态法比表面及孔径分布测定仪静态法比表面及孔径分布测定仪 仪器介绍 专业生产静态法比表面及孔径分布测定仪,BET比表面仪,比表面测试仪,比表面测定仪,比表面测试,比表面测定仪,比表面积测试,比表面积及孔径分布测试,孔径分析仪,孔径分布测试,比表面积及孔径分布测试仪,比表面测试仪全自动化孔径分析仪,比表面积仪, 品牌:JW 货号:JW-RB
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静态法比表面及介孔分布测定仪静态法比表面及介孔分布测定仪 仪器介绍 专业生产静态法比表面及介孔分布测定仪,BET比表面仪,比表面测试仪,比表面测定仪,比表面测试,比表面测定仪,比表面积测试,比表面积及孔径分布测试,孔径分析仪,孔径分布测试,比表面积及孔径分布测试仪,比表面测试仪全自动化孔径分析仪,比表面积仪, 品牌:JW 货号:JW-RB
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静态法比表面及介孔分布测量仪静态法比表面及介孔分布测量仪 仪器介绍 专业生产静态法比表面及介孔分布测量仪,BET比表面仪,比表面测试仪,比表面测定仪,比表面测试,比表面测定仪,比表面积测试,比表面积及孔径分布测试,孔径分析仪,孔径分布测试,比表面积及孔径分布测试仪,比表面测试仪全自动化孔径分析仪,比表面积仪, 品牌:JW 货号:JW-RB
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