PSS Nicomp N3000纳米粒度仪Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 基本信息 仪器型号:PSS Nicomp N3000 Plus 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) 检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp 品牌:Particle Sizing Systems 货号:pss-nicomp 3000 dls
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¥300000-600000 |
马尔文帕纳科激光粒度仪Mastersizer 3000Mastersizer 3000 激光衍射粒度分析仪可为干湿法分散提供快速、便捷的粒径分布测试。 该分析仪可在纳米至毫米粒度范围内进行测量,体积小巧、性能稳定可靠,可为所有用户提供无需操作者干预的测量。马尔文帕纳科在粒度分析领域,为世界各地超过10000家公司的Mastersize 研选 文献支持 品牌:马尔文帕纳科 货号:Mastersizer 3000
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超声综合性能检测模体超声综合性能检测模体由彷组织材料构成,适用于对医用超声诊断设备进行全面的性能评估。测量项目包括:盲区、探测深度、横向分辨率、轴向分辨率、灰阶、囊肿模拟等。 优势 单个模体中综合了普通扫描和小目标测量物结构。 扫描的深度范围为1.0到30.0厘米。 由耐用的橡胶底座组织仿真材料制成 品牌:DELTA 货号:GS-delta421
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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。 SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液 品牌:HORIBA 货号:SZ-100 动态光散射纳米颗粒分析仪
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纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView,外泌体NTA检测,便于携带; 防震动; 光源从紫外线到红光; 理论 平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率,可以得到zeta电位。 纳米粒子跟踪分析(NTA)和动态光散射(DLS) 所有的光散射仪器,包括粒子跟踪技术,都存在一个问题:当颗粒大小低于100nm时,灵 品牌:Particle Metrix 货号:ZetaView
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美国鲁道夫公司J 系列折光模块测量范围:1.26-1.72 超宽测量范围可以满足各种样品的测量需求。 ★测量精度:0.000001 RI ★测量准确度:0.00002 RI ★温度控制:半导体双控温,既可以控制样品池的温度,也可以控制样品盖的温度,保证样品所在的舱体温度稳定。 ★控温范围:10-110度,最高可 品牌:Rudolph 货号:J 系列折光模块
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美国鲁道夫公司折光仪J357五十多年的不断完善和创新,美国鲁道夫公司推出了当今世界上最先进的J系列全自动数字式折光仪。 J357折光仪满足石化、医药等领域高标准实验室的应用要求。 技术参数: ﹡测量范围: 1.26-1.72RI,0-100Brix ﹡测量精度: 0.00001RI, 0.01Brix ﹡测量 品牌:Rudolph 货号:J357
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美国鲁道夫旋光仪Autopol I仪器简介: 美国鲁道夫公司(Rudolph Research Analytical)是一家著名的旋光仪专业制造产家,早在1940年起就致力于旋光仪的研发和制造。多年来鲁道夫公司不断创新改进,相继推出了Autopol II、III、IV、V型自动旋光仪,在化工、制药、制糖及香精香料等 品牌:Rudolph 货号:Autopol I
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美国鲁道夫公司折光仪J157仪器简介: 基于五十多年的不断完善和创新,美国鲁道夫公司推出了当今世界上先进的J系列全自动数字式折光仪。 J157折光仪主要应用于食品、饮料及水样品的测量。 技术参数: ﹡ 测量范围: 1.33-1.53RI,0-100Brix ﹡ 测量精度: 0.00001RI, 0.01Bri 品牌:Rudolph 货号:J157
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