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供应日立TM4000Ⅱ扫描电镜
1
1年
货期60天
日本日立
日立TM4000Ⅱ扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。 TM4000Ⅱ优化提供5kV、10kV、15kV、20KV四种不同电压下的观察模式,每种模式下电流4档可调,并配备4分割背散射探测器,可采集四个不同方向的图像信息,对样品进行多种模式成像。具有全新的SEM-MAP导航功能,同时,电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓,可容纳最大样品直径80mm,厚度50mm。 TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基础上增加高灵敏度低真空二次电子探头UVD,该探头在低真空环境下具有很好的成像质量。TM4000PlusⅡ可将二次电子图像和背散射电子图像叠加并实时进行显示,获得最多的样品信息。TM4000PlusⅡ可以选配Multi Zigzag功能,可实现大范围自动连续拍照和自动拼图功能。
主要参数:
1. 观察条件:5kV/10kV/15kV/20kV(均四档可调)、EDX2. 放大倍率:10×~100000×3. 观察模式:导体、标准模式,消除电荷模式4. 探测器:4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器(TM4000Plus)
应用领域:生命科学、材料科学、化学、电子制造、食品工业
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