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技术资料/正文
34 人阅读发布时间:2025-06-09 14:50
晶圆表面缺陷检测需高强度均匀照明以识别微米级划痕、颗粒污染及图形畸变。传统石英光纤束因光传输效率低(约30%-40%填充率)和端面散射问题,易导致:
照明均匀性不足(±15%以上)
紫外波段透射率衰减(<50%@340nm)
频繁弯折引发光纤断裂
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参数 |
3mm芯径 |
5mm芯径 |
检测应用价值 |
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光谱范围 |
340-800 nm |
340-800 nm |
覆盖紫外缺陷激发至可见光成像 |
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出光角度 |
72° |
72° |
实现晶圆全表面无死角照明 |
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传输距离 |
30 m |
30 m |
灵活布局检测设备 |
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紫外透射率 |
>85%@340 nm |
>85%@340 nm |
提升微颗粒散射信噪比 |
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光强均匀性 |
±3% |
±3% |
消除检测图像伪影 |
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长期工作温度 |
-5℃ ~ +35℃ |
-5℃ ~ +35℃ |
适配洁净室恒温环境 |
液态芯层折射率匹配液(n=1.46)实现全反射临界角<28°
340nm紫外透射率>85%,支持DUV缺陷检测(如193nm光刻胶残留)
红外截止特性(800nm后锐降)避免晶圆热损伤
抗弯折寿命:10万次弯曲(曲径R=50mm)无衰减
(石英束<5000次即断裂)
防漏液设计:多层聚合物管壁+激光焊接端头,通过ISO Class 5洁净度认证
环形光导选件可实现多角度照明,增强边缘缺陷对比度
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检测指标 |
石英光纤束 |
提升效果 |
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0.2μm颗粒捕获率 |
78.2% |
95.6% |
+22.3% |
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划伤识别一致性 |
±15% |
±5% |
波动降低67% |
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紫外照明强度 |
42 mW/cm² |
68 mW/cm² |
+62% |
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维护周期 |
3个月 |
18个月 |
延长6倍 |
问题背景:
某半导体厂0.13μm工艺线,石英束照明导致线宽测量误差超±8%
解决方案:
替换为Lumatec 380-5mm液芯光纤(长度8m)
终端加装72°匀光透镜
光源升级为300W氙灯
结果:
线宽量测一致性提升至±1.5%
缺陷检测节拍从120片/小时提升至180片/小时
年维护成本降低37万美元
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限制因素 |
技术对策 |
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温度敏感性 |
集成热电冷却器(TEC)控温±1℃ |
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不可切割定制 |
预置标准长度+快速连接器方案 |
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端面清洁要求 |
配套自动干冰清洗模块 |
Lumatec 380系列液芯光纤通过液态全反射通道突破传统光学局限,成为晶圆明场检测的理想选择:
340nm紫外高透射——激活微缺陷光学响应
100%填充率——消除照明暗区
72°精准出光——匹配高NA物镜景深
30米柔性传输——重构设备空间布局
建议在以下场景优先选用:
✅ 45nm以下制程的DUV检测
✅ 300mm晶圆全域扫描系统
✅ 在线式高速检测设备(>150wafers/hour)
选型提示:
3mm芯径:适用于局部高分辨率检测(光斑直径<5mm)
5mm芯径:推荐用于整片晶圆快速扫描